Attolight 的扮演关键角色的阴极发光显微学在联合开发程序与 CEALeti

Published on October 29, 2012 at 6:06 AM

Attolight 和 CEALeti 今天宣布他们加入联接发展程序运用 Attolight 的阴极发光显微学于半导体材料。

电子和光学显微学的 Attolight 的创新组合显示超跟踪杂质和晶体缺陷不可视使用其他成象技术。 公司的核心专门技术是称阴极发光的计量技术,产生提供对物质结构和属性的更加深刻的理解数据的级别一个非破坏性的描述特性方法。 与 Leti 的程序被设计扩大技术用于筹码行业和研究应用。

“与 CEALeti 的此联接发展程序是 Attolight 的一个主要重要事件。 它是 Attolight 的创新技术的值的一个清晰指示器科技目前进步水平研究的对各种各样的应用”, CEO 塞缪尔 Sonderegger 说 Attolight。 “我们非常自豪地与这样一个有名望的合作伙伴合作,并且此发展明显地支持 Attolight 的产品的质量”。

”我们的集成阴极发光途径开张新的调查区域研究与开发小组的。 第一次在市场, Attolight 的非破坏性的方法生成定量高分辨率阴极发光数据为高级材料研究”, Attolight 的副总统说 Olivier Gougeon,销售额和市场营销。 “此联合开发程序将加速 Attolight 的产品投资组合组合,并且支持公司的全球方法提供创新描述特性工具、服务和专门技术给半导体行业和研究实验室”。

“阴极发光显微学的简介在先进的描述特性技术我们的投资组合的是根据我们的模式,并且做的可能的由于法国 RTB 程序”,程序管理器说 Narciso Gambacorti, Leti 的 nanocharacterization。 “此新的设备将完成唯一聘用根据材料分析已经可用在国际水平的 nanocharacterization 平台 (PFNC) 存在 MINATEC 校园。 Attolight 的经验在材料分析和阴极发光领域在 Leti 将极大,特别是,加速此技术的简介。

来源: http://www.leti.fr

Last Update: 29. October 2012 06:28

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