El NIST Avance la Caracterización de Nanoscale de Materiales Usando la Espectroscopia AFM-Basada

Published on October 30, 2012 at 8:48 AM

Los Instrumentos de Anasys anuncian un nuevo papel sido autor por el Dr. Andrea Centrone y sus colegas en el NIST publicado recientemente en Small*, una publicación de cabeza que se centre en los mundos nanos y micros.

Diagrama Esquemático para mostrar la operación de AFM-IR

Las personas del Dr. Centrone señalaron sobre los experimentos que estudiaron cuidadosamente la fuerza de señal de AFM-IR comparado con espesor de la muestra. Los experimentos mostraron que la señal de AFM-IR aumenta lineal con el espesor para las muestras hasta el 1µm grueso. Esta linearidad observada puede pavimentar la manera para el análisis químico cuantitativo en el nanoscale.

AFM-IR ha atraído recientemente gran interés en que activa la identificación y la proyección de imagen químicas con la resolución del nanoscale. En este papel, el NIST señala sobre las muestras nanopatterned del polímero del haz electrónico que fueron fabricadas directamente en los prismas del selénido del cinc y utilizadas para evaluar experimental la resolución, la sensibilidad y las linearidades laterales de la señal de AFM-IR. Los autores han mostrado que la resolución lateral de AFM-IR para la proyección de imagen química es comparable a la resolución lateral obtenida en la topografía del AFM. Los Espectros y las correspondencias de la substancia química fueron producidos de muestras tan ligeramente como 40 nanómetro. Las observaciones también proporcionan a la confirmación experimental de predicciones teóricas en AFM-IR desarrollado previamente por Profesor Alejandro Dazzi de Univ de París-Orsay que sea también el inventor de la técnica.

La técnica patentada de AFM-IR está disponible comercialmente como la plataforma de los Instrumentos de Anasys, Santa Barbara, CA del nanoIR™. En AFM-IR, un laser infrarrojo rápidamente (IR) pulsado se dirige conectado sobre una muestra fina que absorba la luz del IR y experimente la extensión termomecánica rápida. Una punta del AFM en contacto con la muestra resuena en respuesta a la extensión, y esta resonancia es medida por el AFM. “Esto a través de trabajo del Dr. Centrone Nos excitamos y sus colegas,” dijo a Craig Prater, Principal Oficial de la Tecnología de los Instrumentos de Anasys. “Aplaudimos la investigación y la implicación del NIST en la caracterización de avance del nanoscale de materiales usando la espectroscopia AFM-basada.”

Last Update: 30. October 2012 10:48

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