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Il NIST Avanza la Caratterizzazione di Nanoscale dei Materiali Facendo Uso della Spettroscopia AFM Basata

Published on October 30, 2012 at 8:48 AM

Gli Strumenti di Anasys annuncia un nuovo documento creato dal Dott. Andrea Centrone ed i suoi colleghi al NIST pubblicato recentemente in Small*, una pubblicazione principale che mette a fuoco sui mondi nani e micro.

Disegno Schematico per mostrare l'operazione di AFM-IR

Il gruppo del Dott. Centrone ha riferito sugli esperimenti che hanno studiato con attenzione la potenza del segnale di AFM-IR contro spessore del campione. Gli esperimenti hanno indicato che il segnale di AFM-IR aumenta linearmente con spessore per i campioni fino ad un massimo di 1µm spesso. Questa linearità osservata può aprire la strada per l'analisi chimica quantitativa al nanoscale.

AFM-IR recentemente ha attirato il grande interesse in quanto permette all'identificazione ed alla rappresentazione chimiche con risoluzione del nanoscale. In questo documento, il NIST riferisce sui campioni del polimero nanopatterned fascio di elettroni che da costruzione direttamente sui prismi del seleniuro dello zinco e sono stati usati per valutare sperimentalmente la risoluzione, la sensibilità e le linearità laterali del segnale di AFM-IR. Gli autori hanno indicato che la risoluzione laterale di AFM-IR per la rappresentazione chimica è comparabile alla risoluzione laterale ottenuta in topografia del AFM. Gli Spettri e le mappe del prodotto chimico sono stati prodotti leggermente dai campioni quanto 40 nanometro. Le osservazioni egualmente forniscono la conferma sperimentale delle previsioni teoriche su AFM-IR precedentemente sviluppato da Prof. Alexandre Dazzi di Univ di Parigi-Orsay che è egualmente l'inventore della tecnica.

La tecnica brevettata di AFM-IR è commercialmente disponibile come la piattaforma dagli Strumenti di Anasys, Santa Barbara, CA del nanoIR™. In AFM-IR, un laser rapido pulsato (IR) di infrarosso è diretto sopra sopra un campione sottile che assorbe l'indicatore luminoso di IR e subisce l'espansione termomeccanica rapida. Un suggerimento del AFM in contatto con il campione risuona in risposta all'espansione e questa risonanza è misurata dal AFM. “Siamo eccitati da questo attraverso lavoro dal Dott. Centrone ed i suoi colleghi,„ ha detto Craig Prater, Ufficiale Principale della Tecnologia degli Strumenti di Anasys. “Applaudiamo la ricerca e la partecipazione del NIST alla caratterizzazione d'avanzamento del nanoscale dei materiali facendo uso della spettroscopia AFM basata.„

Last Update: 30. October 2012 10:47

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