De Karakterisering van Nanoscale van de Vooruitgang NIST van Materialen die de AFM-Gebaseerde Spectroscopie Gebruiken

Published on October 30, 2012 at 8:48 AM

De Instrumenten van Anasys kondigt aan een nieuw document door Dr. Andrea Centrone authored en zijn collega's bij NIST onlangs in Small*, een belangrijke publicatie publiceerden die zich op de nano en micro- werelden concentreert.

Schema om de verrichting van afm-IRL te tonen

Team van Dr. Centrone's rapporteerde over experimenten die zorgvuldig de afm-IRL signaalsterkte tegenover steekproefdikte bestudeerden. De experimenten toonden aan dat het signaal afm-IRL lineair met dikte voor steekproeven tot dikke 1µm stijgt. Deze waargenomen lineariteit kan de weg voor kwantitatieve chemische analyse bij nanoscale banen.

Afm-IRL heeft onlangs duidelijke belangstelling aangetrokken in zoverre dat het chemische identificatie en weergave met nanoscaleresolutie toelaat. In dit document, Nanopatterned de nist- rapporten over elektronenstraal polymeersteekproeven die direct op de prisma's van het zinkselenide werden vervaardigd en werden gebruikt om de afm-IRL signaal zijresolutie, de gevoeligheid en de lineariteit experimenteel te evalueren. De auteurs hebben aangetoond dat de zijresolutie afm-IRL voor chemische weergave met de zijresolutie die in de topografie AFM wordt verkregen vergelijkbaar is. De Spectrums en de chemische kaarten werden veroorzaakt uit steekproeven zo dun zoals 40 NM. De observaties verstrekken ook experimentele bevestiging van theoretische voorspellingen op afm-IRL dat eerder door Prof. Alexandre Dazzi van Univ van Parijs-Orsay wordt ontwikkeld die ook de uitvinder van de techniek is.

De gepatenteerde techniek afm-IRL is beschikbaar commercieel als nanoIR™platform bij Anasys Instrumenten, Kerstman Barbara, CA. In afm-IRL, wordt een snel gepulseerde infrarode (IR) laser geleid op een dunne steekproef die het licht van IRL absorbeert en snelle thermomechanische uitbreiding ondergaat. Een uiteinde AFM in contact met de steekproef resoneert in antwoord op de uitbreiding, en deze resonantie wordt gemeten door AFM. „Wij worden opgewekt door dit door het werk door Dr. Centrone en zijn collega's,“ bovengenoemde Craig Prater, de Belangrijkste Ambtenaar van de Technologie van Instrumenten Anasys. „Wij juichen het onderzoek en de betrokkenheid van NIST vooraf nanoscale karakterisering van materialen toe gebruikend de op AFM-Gebaseerde spectroscopie.“

Last Update: 30. October 2012 10:47

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit