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O NIST Avança a Caracterização de Nanoscale dos Materiais Usando a Espectroscopia AFM-Baseada

Published on October 30, 2012 at 8:48 AM

Os Instrumentos de Anasys anunciam um papel novo sido o autor pelo Dr. Andrea Centrone e seus colegas no NIST publicado recentemente em Small*, uma publicação principal que focalize nos mundos nano e micro.

Diagrama Esquemático para mostrar a operação de AFM-IR

A equipe do Dr. Centrone relatou nas experiências que estudaram com cuidado a força de sinal de AFM-IR contra a espessura da amostra. As experiências mostraram que o sinal de AFM-IR aumenta linear com espessura para amostras até 1µm grosso. Esta linearidade observada pode pavimentar a maneira para a análise química quantitativa no nanoscale.

AFM-IR atraiu recentemente o grande interesse que permite a identificação e a imagem lactente químicas com definição do nanoscale. Neste papel, o NIST relata nas amostras nanopatterned do polímero do feixe de elétron que foram fabricadas directamente em prismas do selenide do zinco e usadas para avaliar experimental a definição, a sensibilidade e as linearidades laterais do sinal de AFM-IR. Os autores mostraram que a definição lateral de AFM-IR para a imagem lactente química é comparável à definição lateral obtida na topografia do AFM. Os Espectros e os mapas do produto químico foram produzidos das amostras tão finamente quanto 40 nanômetro. As observações igualmente fornecem a confirmação experimental de previsões teóricas em AFM-IR desenvolvido previamente pelo Prof. Alexandre Dazzi de Univ de Paris-Orsay que é igualmente o inventor da técnica.

A técnica patenteada de AFM-IR está disponível comercialmente como a plataforma dos Instrumentos de Anasys, Santa Barbara do nanoIR™, CA. Em AFM-IR, um laser infravermelho ràpida (IR) pulsado é dirigido sobre em cima de uma amostra fina que absorva a luz do IR e se submeta à expansão termomecânica rápida. Uma ponta do AFM em contacto com a amostra resonates em resposta à expansão, e esta ressonância é medida pelo AFM. “Nós somos entusiasmado por este através do trabalho pelo Dr. Centrone e seus colegas,” disse Craig Prater, Oficial Principal da Tecnologia de Instrumentos de Anasys. “Nós aplaudimos a pesquisa e a participação do NIST na caracterização de avanço do nanoscale dos materiais usando a espectroscopia AFM-baseada.”

Last Update: 30. October 2012 10:48

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