使用基于 AFM 的分光学, NIST 提前材料的 Nanoscale 描述特性

Published on October 30, 2012 at 8:48 AM

Anasys 仪器宣布安德里亚 Centrone 和他的同事博士编写的新的文件在 Small* 最近发布的 NIST,着重纳诺和微世界的主导的发行。

显示 AFM-IR 的运算的概要

Centrone 博士的小组报告关于认真学习 AFM-IR 信号强度与范例厚度的实验。 实验向显示 AFM-IR 信号线性地增加与厚度为范例至 1µm 厚实。 此被观察的线性可能铺平道路定量化学分析的在 nanoscale。

AFM-IR 最近吸引了巨大利息因为它启用化工确定和想象与 nanoscale 解决方法。 在本文, NIST 报告关于直接地在锌硒化物棱镜被制造并且用于实验评估 AFM-IR 信号侧向解决方法、区分和线性的电子束 nanopatterned 聚合物范例。 作者向显示化工想象的 AFM-IR 侧向解决方法与在 AFM 地势里获得的这个侧向解决方法是可比较的。 光谱和化学制品映射由范例一样稀薄被生产了象 40 毫微米。 观察在巴黎Orsay 的 Univ 的亚历山大 Dazzi 教授以前开发的 AFM-IR 也提供理论上的预测的实验确认也是这个技术的发明者。

给予专利的 AFM-IR 技术商业上是可用的作为从 Anasys 仪器的 nanoIR™平台,圣芭卜拉, CA。 在 AFM-IR,迅速地搏动的红外 (IR)激光处理在吸收红外线光并且进行迅速热机的扩展的一个稀薄的范例。 与这个范例联系的一个 AFM 技巧共鸣以回应扩展,并且此共鸣由 AFM 评定。 “我们由此激发通过工作在 Centrone 博士旁边,并且他的同事”,首席技术军官说克雷格 Prater, Anasys 仪器的。 “我们赞许 NIST 的研究和介入在材料的提前的 nanoscale 描述特性使用基于 AFM 的分光学”。

Last Update: 30. October 2012 10:46

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