Site Sponsors
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

There is 1 related live offer.

5% Off SEM, TEM, FIB or Dual Beam

導致非常強烈的漩渦的新穎的方法為電子顯微鏡術放光

Published on November 6, 2012 at 4:33 AM

現今,電子顯微鏡是重要工具,特別是在材料學領域。 在 TU 維也納,擁有一個內在循環的電子束類似被創建,於龍捲風。 這些 「漩渦射線」可能不僅用於顯示對象,但是調查材料特定屬性 - 與在毫微米等級的精確度。 在研究的新的突破現在允許科學家導致更加強烈的漩渦射線。

這是邁克爾 Stöger-Pollach (離開) 和彼得 Schattschneider (正確)。 赊帳: 維也納科技大學

Quantum 龍捲風: 電子作為通知

在龍捲風,各自的空氣微粒獨自地不一定轉動軸,但是航空吸所有創建一個強大的循環。 在 TU 維也納被生成了的轉動的電子束正常運行以一個非常相似的方式。 為了瞭解他們,我們不應該認為電子作為小字母的點或藥丸,在該案件他們可能至多獨自地轉動軸。 漩渦放光,另一方面,能只解釋根據量子物理學: 電子正常運行像通知,并且此數量通知可能轉動像龍捲風或水當前在船的推進器後。

「在漩渦射線獲取角動量後,它可能也調用此角動量到它遇到」的對象,解釋的教授從在 TU 維也納的固態物理學學院的彼得 Schattschneider。 電子的角動量在一個固定的對象的緊密地連接其磁性。 因此對於材料學它是一個巨大的好處能發表關於在這些新的電子束基礎上的角動量情況的語句。

射線轉動 - 與屏蔽和屏幕

Stöger-Pollach 的彼得 Schattschneider 和邁克爾 (USTEM, TU 維也納) 與從安特衛普的一個研究小組一起從事創建的這個最強烈,最乾淨和可控制的漩渦放光可能在傳輸電子顯微鏡。 第一成功達到二年前: 在,電子束通過小字母的網格屏蔽時候被射擊了,藉以它分裂了成三條部分射線: 一向右轉,一向左轉和一條射線沒有轉動。

現在,一個新,更加強大的方法被開發了: 研究員使用一個屏幕,一半由氮化硅層包括。 此層那麼稀薄是電子可能用幾乎所有吸收擊穿它,然而他們可以階段適當地被轉移。 「在集中使用一個特殊地適應的矯正散光的透鏡以後,一條單個漩渦射線獲得」,解釋的邁克爾 Stöger-Pollach。

此射線由一個數量級比漩渦射線是強烈我們能迄今創建。 「首先,我們不分裂這條射線成三部分,對網格屏蔽通常就是這樣,但是相當,整個電子流被設置到循環。 其次,網格屏蔽有阻攔電子的一半的缺點 - 新的特殊屏幕不執行此」,說 Stöger-Pollach。

由於新技術、右邊和左轉動的射線可能現在區分以一個可靠的方式 - 以前這只是可能的有困難。 如果我們現在添加一個預先確定的角動量到每條右邊和左轉動的射線,增加一條射線的循環,而另一條射線的循環減少。

有轉彎的電子顯微鏡

此新技術由在 「實際覆核的研究小組簡要介紹在」日記帳上寫字。 今後,這個目標將運用方法在材料學。 磁性經常是注意焦點,特別地一旦新開發的設計員材料。 「有漩渦射線的傳輸電子顯微鏡將允許我們調查與 nanometric 精確度的這些屬性」,解釋的彼得 Schattschneider。

漩渦射線的更加異乎尋常的應用也是可以想像的: 原則上,設置在循環的各種各樣的對象 - 甚而各自的分子 - 是可能的使用這些射線,擁有角動量。 因此漩渦射線在納米技術方面能也打開新的門。

來源: http://www.tuwien.ac.at/

Last Update: 6. November 2012 05:23

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit