Synopsys 生成內存 20 毫微米 SoC 設計的測試解決方法

Published on November 7, 2012 at 4:30 AM

Synopsys, Inc. (那斯達克:SNPS),全球領導先鋒提供軟件,用於的 IP 和服務加速在籌碼和電子系統的創新,今天宣佈了其 DesignWare® 星形內存 System®,一個自動化的前和之後硅內存測試新的版本,请調試,診斷,并且使設計員改進結果的質量的維修服務解決方法 (QoR),減少設計時間,更低的測試花費并且優選製造產量。

最新的版本,瞄準 20 nm 和基於 FinFET 的設計,包括新的結構啟用分層結構實施,并且大 SoC 的驗證設計包含千位嵌入內存,可能減少需時實施測試,雖然同樣減少區多達 30%。 另外,新的版本高效地解決測試和維修服務新的內存缺陷的被看到在 20 nm 進程中以下例如處理差異故障和抗拒故障。

「有佔用接近 50% 的 SoC 的嵌入內存,有與固定自檢和維修服務的一個全面內存測試解決方法對達到最佳的產量至關重要,當降低總成本時」, IP 分析員說埃里克 Esteve, IPNest 的。 「是流行在設計在 20 毫微米以下其 DesignWare 星形存儲系統的下一代的 Synopsys 的簡介極大改進設計員的能力檢測特定內存缺陷和失效機理」。

在星形存儲系統的新的結構提供先進記憶體定址,并且可編程序的內存背景仿造需要創建檢測的不僅靜態和動態故障優化測試算法,而且處理差異和抗拒故障,是可能發生在技術節點 20 毫微米以下。 新版本通過存儲仅唯一測試要素也優選測試生成邏輯,提供重大的區儲蓄。

星形存儲系統允許測試和維修服務 IP 的分層結構生成和核實在 SoC 內的,當維護原始設計層次結構時。 這可能加速設計和核實時間,當允許現有設計約束和配置文件重新使用,減少整體 SoC 設計時間時。 這些新的功能的組合由 30% 減少總測試和修理面積與早先生成產品比較,當啟用更加快速的設計關閉時。 這些功能可能也減少為硅給批量生產帶來和產量優化的缺陷分析的需時,使這架舷梯在幾星期發生而不是幾個月。

通過使用一輛預先配置的測試公共汽車,這個解決方法允許在速度高性能處理器核心測試和維修服務,提供存取對於在核心裡面的內存在測試方式下。 這個系統使用此公共汽車測試內存并且添加內存在 IP 核心之外的測試和維修服務邏輯避免對處理器核心性能的所有影響。 設計為使用有所有鑄造廠或進程節點的可修理和不能修理的內存,星形存儲系統提供綜合化以 Synopsys 的 DesignWare 嵌入內存通過硬化在內存內的規定期限重要測試和維修服務邏輯,進一步改善的性能、功率和區以及測試質量。

與基於綜合的測試解決方法的組合 Synopsys 的全面投資組合包括 TetraMAX® ATPG 和 DFTMAX™壓縮,與固定自測的 DesignWare SerDes IP 和產生為產量分析的 Explorer® 工具,星形存儲系統提供一個完全測試解決方法套件迅速實現整體測試費用和質量目標。

「20 毫微米 SoC 設計,實施穩健,區高效的內存測試和維修服務 IP 對管理的製造產量至關重要」,約翰 Koeter,在 Synopsys 的市場營銷的副總裁 IP 的和系統說。 「最新的星形存儲系統版本不僅改進故障覆蓋範圍和維修服務,但是如此執行,當幾乎減少硅區由第三,使工程小組獲得他們的 20 毫微米時設計快速地銷售與更低的製造成本」。

來源: http://www.synopsys.com/

Last Update: 7. November 2012 05:45

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