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El Método Universal a Eficientemente Mide el Espesor de Graphene Usando el Microscopio Óptico

Published on November 16, 2012 at 5:02 AM

Las propiedades notables y las aplicaciones subsiguientes del graphene han estado bien documentadas desde que primero fue aislado en 2004; sin embargo, los investigadores todavía están intentando encontrar un rápido, barato y el modo eficaz de medir su espesor.

Un grupo de investigadores de China aparece haber resuelto este problema ideando un método universal usando apenas un microscopio óptico estándar.

En un estudio publicado hoy, el 16 de noviembre de 2012, en Nanotecnología del gorrón del IOP Que Publicaba, han mostrado que el espesor del graphene, junto con un ordenador principal de otros materiales bidimensionales, puede ser obtenido midiendo los componentes rojos, verdes y azules de la luz mientras que se reflejan de la superficie de material.

El estudio muestra que el contraste de valores rojos, verdes y azules entre el substrato en el cual se coloca la muestra y la muestra sí mismo aumenta con el espesor de la muestra.

El método es rápido, operatorio fácilmente y no requiere ningún equipo costoso.

Los investigadores, del Instituto de Tecnología de Harbin en Weihai y la Universidad Suroriental, creen que esto es una contribución importante a la investigación fundamental y las aplicaciones potenciales de materiales, tales como graphene, tanto de sus propiedades notables son confiadas en el espesor del material sí mismo.

“En El Pasado, métodos para determinar el espesor de materiales bidimensionales han sido muy costoso y han tenido una producción lenta. Nuestra técnica combina un microscopio común con un dígito binario simple del software, haciéndole un muy rápido, barato y el modo eficaz de medir espesor,” dijo al co-autor del Profesor Zhenhua Ni del estudio.

Los investigadores probaron su método examinando el graphene mecánicamente exfoliated, el óxido del graphene, el graphene nitrógeno-dopado y el disulfuro del molybdenuym, que han atraído gran de interés debido a sus propiedades eléctricas, mecánicas, térmicas y ópticas de la intriga.

Un microscopio óptico estándar fue utilizado para obtener las imágenes ópticas de las muestras y un pedazo de software Matlab llamado fue utilizado para leer los valores rojos, verdes y azules en cada pixel de la imagen óptica.

La espectroscopia de Raman y la microscopia atómica de la fuerza fueron utilizadas para confirmar mediciones del espesor a los investigadores las'.

Fuente: http://www.iop.org

Last Update: 16. November 2012 09:29

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