Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
Posted in | Microscopy | Graphene

There is 1 related live offer.

5% Off SEM, TEM, FIB or Dual Beam

Всеобщий Метод к Эффективно Измеряет Толщину Graphene Используя Оптически Микроскоп

Published on November 16, 2012 at 5:02 AM

Замечательные свойства и последующие применения graphene документированный в виду того что оно сперва было изолировано в 2004; однако, исследователя все еще пробуют найти быстрая, дешево и эффективный способ измерять свою толщину.

Кажется, что разрешает группа в составе исследователя от Китая эту проблему путем изобретать всеобщий метод используя как раз стандартный оптически микроскоп.

В изучении опубликованном сегодня, 16-ое ноября 2012, в Нанотехнологии журнала IOP Опубликовывая, они показывали что толщина graphene, вместе с хозяином других плоских материалов, может быть получена путем измерять красные, зеленые и голубые компоненты света по мере того как они отражены от поверхности материала.

Изучение показывает что контраст красных, зеленых и голубых значений между субстратом на котором образец помещен и образец сам увеличивает с толщиной образца.

Метод быстрый, легко работано и не требует никакого дорогего оборудования.

Исследователя, от Института Технологии Харбин на Вейхай и Юговосточом Университете, верят что это значительно вклад к основному исследованию и потенциальные применения материалов, как graphene, так много их замечательных свойств уверенный на толщине самой материала.

«В прошлом, методах для определять толщину плоских материалов очень дорогий и имейте медленное объём. Наш метод совмещает общий микроскоп при простой бит ПО, делая им очень быструю, дешево и эффективный способ измерять толщину,» сказал соавтор Профессора Zhenhua Ni изучения.

Исследователя испытали их метод путем рассматривать механически exfoliated graphene, окись graphene, азот-данное допинг graphene и дисульфид molybdenuym, которые привлекали должное большого интереса к их интриговать электрическим, механически, термальным и оптически свойствам.

Стандартный оптически микроскоп был использован для того чтобы получить оптически изображения образцов и часть ПО вызванного Matlab была использована для того чтобы прочитать красные, зеленые и голубые значения на каждом пикселе оптически изображения.

Спектроскопия Raman и атомная микроскопия усилия были использованы для того чтобы подтвердить измерения толщины исследователей'.

Источник: http://www.iop.org

Last Update: 16. November 2012 09:28

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit