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使用光学显微镜,对高效地的通用方法评定 Graphene 厚度

Published on November 16, 2012 at 5:02 AM

自从它在 2004年,首先查出 graphene 的卓越的属性和随后的应用是有大量文件证明的; 然而,研究员仍然设法查找快速,便宜地和评定其厚度有效方法。

使用一个标准光学显微镜,一个组从中国的研究员看上去通过构想一个通用方法解决了此问题。

在今天发布的研究中, 2012年 11月 16日,在 IOP 发布的日记帐纳米技术方面,他们向显示 graphene 的厚度,以及许多其他二维材料,可以通过评定光红色,绿色和蓝色要素获得,当他们从实质面被反射。

这个研究向显示红色,绿色和蓝色值对比在这个范例被安置的基体范围的,并且这个范例增加与这个范例的厚度。

这个方法是快速的,容易地运行并且不要求消耗大的设备。

研究员,从哈尔滨技术研究所在威海和东南大学的,相信这是对这个根本研究的一个重大摊缴,并且材料的潜在的应用,例如 graphene,许多他们卓越的属性是倚赖于材料的厚度。

“以前,识别的二维材料的厚度方法是非常消耗大的和有一个缓慢的处理量。 我们的技术与简单的位软件结合一个公用显微镜,做它一非常快速,便宜地和有效方法评定厚度”,共同执笔者说研究教授 Zhenhua Ni 的。

研究员通过检查机械上被剥落的 graphene、 graphene 氧化物、氮气被掺杂的 graphene 和 molybdenuym 二硫化物测试了他们的方法,吸引了极大到期利息对他们吸引电子,机械,热量和光学性能。

一个标准光学显微镜用于得到范例的光学图象,并且软件模块叫的 Matlab 用于读红色,绿色和蓝色值在光学图象的每象素。

喇曼分光学和基本强制显微学用于确认研究员’厚度评定。

来源: http://www.iop.org

Last Update: 16. November 2012 09:26

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