Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
Posted in | Microscopy | Graphene

There is 1 related live offer.

5% Off SEM, TEM, FIB or Dual Beam

使用光學顯微鏡,對高效地的通用方法評定 Graphene 厚度

Published on November 16, 2012 at 5:02 AM

自從它在 2004年,首先查出 graphene 的卓越的屬性和隨後的應用是有大量文件證明的; 然而,研究員仍然設法查找快速,便宜地和評定其厚度有效方法。

使用一個標準光學顯微鏡,一個組從中國的研究員看上去通過構想一個通用方法解決了此問題。

在今天發布的研究中, 2012年 11月 16日,在 IOP 發布的日記帳納米技術方面,他們向顯示 graphene 的厚度,以及許多其他二維材料,可以通過評定光紅色,綠色和藍色要素獲得,當他們從實質面被反射。

這個研究向顯示紅色,綠色和藍色值對比在這個範例被安置的基體範圍的,并且這個範例增加與這個範例的厚度。

這個方法是快速的,容易地運行并且不要求消耗大的設備。

研究員,從哈爾濱技術研究所在威海和東南大學的,相信這是對這個根本研究的一個重大攤繳,并且材料的潛在的應用,例如 graphene,許多他們卓越的屬性是倚賴於材料的厚度。

「以前,識別的二維材料的厚度方法是非常消耗大的和有一個緩慢的處理量。 我們的技術與簡單的位軟件結合一個公用顯微鏡,做它一非常快速,便宜地和有效方法評定厚度」,共同執筆者說研究教授 Zhenhua Ni 的。

研究員通過檢查機械上被剝落的 graphene、 graphene 氧化物、氮氣被摻雜的 graphene 和 molybdenuym 二硫化物測試了他們的方法,吸引了極大到期利息對他們吸引電子,機械,熱量和光學性能。

一個標準光學顯微鏡用於得到範例的光學圖像,并且軟件模塊叫的 Matlab 用於讀紅色,綠色和藍色值在光學圖像的每像素。

喇曼分光學和基本強制顯微學用於確認研究員』厚度評定。

來源: http://www.iop.org

Last Update: 16. November 2012 09:26

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit