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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

Park Anlagen Stellt das NX20 vor: Genaueste FLUGHANDBUCH der Welt das für Fehleranalyse und Qualitätssicherung

Published on November 26, 2012 at 7:52 AM

Park Anlagen führt das NX20, ein Spitzen-, großes Beispielatomkraftmikroskop (AFM) für Fehleranalyse (FA) und Qualitätssicherungs (QA)labors ein, die von der besten erhältlichen Genauigkeit und der Zuverlässigkeit profitieren.

Das NX20 ist das neueste Baumuster der NX-Produktlinie mit genauesten FLUGHANDBUCH der Welt dem. Konstruiert für den Bedarf von FA und von QA in den Festplattenlaufwerk- und Halbleiterindustrien, steht das NX20 heraus für seinen nicht angepassten berührungsfreien Modus, der Fühler-Spitzenschärfe der Garantien lang anhaltend. Die ist die Taste zur höchsten Genauigkeit und zur Wiederholbarkeit für Rauheitsmaß und Defektzusammenfassung. Sie ist auch zur hohen Produktivität und zu den niedrigsten FLUGHANDBUCH-Folgekosten Schlüssel.


„Unsere Technologie ist in den forderndsten Anwendungen für nanoscale Maße in der Industrie nachgewiesen worden,“ sagte Dr. Singen-IL-Park, der Gründer und CEO von Park-Anlagen. „Gestalten NX20 auf langer Technikgeschichteführung des Parks in FLUGHANDBUCH-Genauigkeit und in seinem Ansehen als den Nanotechnologielösungen tun zusammen sich, um zu erforschen und Industrie. Unser Wahrer Berührungsfreier Modus konserviert die Spitze für viel längere Spitzenlebensdauer und liefert die genauesten Maße und die Bilder, die erhältlich sind für die Anforderungen der kritischsten Analyse.“ 

Die Vorteile des NX20 für FA und QA markieren das Wahre Berührungsfreie ModeTM des Parks, in dem die Fühlerspitze zuverlässig über der Oberfläche der Probe bleibt, dank die entkoppelte Z-Abmessung, die Servo mit der schnellsten Antwortzeit in der Industrie in Position bringt. Mit Wahrer Berührungsfreier ModeTM-Parktechnologie entbindet berührungsfreie FLUGHANDBUCH-Darstellung ohne kompromittierende Maßgenauigkeit oder Benutzerproduktivität. Es auch verringert drastisch Spitzenwiederbeschaffungskosten, indem es Spitzenlebenszeit ausdehnt. Das NX20 kennzeichnet auch Wahre Probe TopographyTM, die eindeutige Technologie des Parks für das Messen der Z-Stellung mit einem Industrie-führenden lärmarmen Z-Detektor. Dieses Merkmal löscht die Effekte von Rand Overshoot oder von piezo Ausdehnung. Park FLUGHANDBUCH-Technologie liefert FA und QA-Labors mit extrem genauen Oberflächenrauigkeitsmaßen für Media und Substratflächen, Defektzusammenfassungsdarstellung und Analyse, elektrischer Scan-Modus der hohen Auflösung und mit entkoppeltem X-Yscannen, Seitenwand measurments für Zelle 3D studieren.

„Als kritische Abmessungen schrumpfen Sie und Einheitskomplexität erhöht, die Qualität Ihrer Daten ist kritisch für den Erfolg Ihrer Forschung, Analyse und schließlich Einheitsertrags.  Die Taste zu den Qualitätsergebnissen ist Genauigkeit am nanoscale.  Genaue und wiederholbare Maße bedeuten größere Produktivität, bessere Analysen und bessere Geschäftsergebnisse. Mit Park Richten NX20 Berührungsfreien Modus, FLUGHANDBUCH-Spitzen zuletzt längere Einsparungszeit mit 10mal und Geld aus. Park NX20 Wahre Probe TopographyTM aktiviert genaue Oberflächenhöhenaufnahme der Beispieloberfläche mit seinem führenden lärmarmen Z Detektor der Industrie,“ sagte Ryan Yoo, Vizepräsident von Globalen Verkäufen und von Marketing. „Park versteht den Industriebedarf an einem hoch entwickelten FLUGHANDBUCH mit erschwinglichen Folgekosten, die die Genauigkeit, die Produktivität und die Zuverlässigkeit entbindet. Dieses ist, wie Park ist geworden das FLUGHANDBUCH der Wahl in der Festplatten- und Halbleiterindustrie.“

Mit der Einleitung des NX20, startet Park-Anlagen ein FLUGHANDBUCH, das für den Bedarf von FA- und QA-Labors aufgebaut wird. Der Spitzen-, große Stichprobenplan liefert die Genauigkeit und die Produktivität, die indem er herstellt Halbleiter und Laufwerke, bei der Senkung von Lebenszykluskosten verlangt wird. Er adressiert auch die Zukunft mit der Flexibilität, eine Vielzahl erhältliche FLUGHANDBUCH-Modi, einschließlich hoch entwickelte Optionen hinzuzufügen und Modi für FA und QA, die in der Entwicklung sind. Technische Daten- und Beispielmaße sind- auf Anfrage erhältlich. Zu mehr Information bringen Sie bitte psc@parkAFM.com in Kontakt oder besuchen Sie www.parkAFM.com/nx.

Last Update: 27. November 2012 06:17

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