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Los Sistemas del Parque Revelan el NX20: El AFM Más Exacto del Mundo para el Análisis del Incidente y la Garantía de Calidad

Published on November 26, 2012 at 7:52 AM

Los Sistemas del Parque introducen el NX20, un microscopio atómico de la fuerza de la muestra de gama alta, grande (AFM) para el análisis del incidente (FA) y los laboratorios de la garantía (QA) de calidad que se beneficiarán de la mejores exactitud y confiabilidad disponibles.

El NX20 es el modelo más reciente de la línea de productos de NX con el AFM más exacto del mundo. Diseñado para las necesidades del FA y del QA en las industrias de la unidad de disco duro y del semiconductor, el NX20 representa fuera su modo sin contacto incomparable que agudeza de larga duración de la punta de la antena de las garantías. Ése es el clave a la exactitud más alta y a la repetibilidad para la medición de la tosquedad y la revista del defecto. Es también dominante a la alta productividad y a los costos de ciclo vital más inferiores del AFM.


“Nuestra tecnología se ha probado en las aplicaciones más exigentes para las mediciones del nanoscale en industria,” dijo al Dr. Parque de Cantar-IL, el fundador y CEO de los Sistemas del Parque. “Los emplear NX20 la larga historia del Parque del liderazgo de la tecnología en exactitud del AFM y su reputación como las soluciones de la nanotecnología partner para investigar e industria. Nuestro Modo Sin contacto Verdadero preserva la punta durante mucho más tiempo inclina vida y proporciona a las mediciones y a las imágenes más exactas disponibles para los requisitos del análisis más crítico.” 

Las ventajas del NX20 para el FA y el QA destacan ModeTM Sin contacto Verdadero en donde sigue habiendo la punta de la antena seguro encima de la superficie de la muestra, gracias del Parque a la Z-Dimensión desemparejada que coloca el servo con el tiempo de reacción más rápido de la industria. Con tecnología Sin contacto Verdadera del Parque de ModeTM entrega proyección de imagen sin contacto del AFM sin exactitud de la medición o productividad de compromiso del utilizador. También reduce dramáticamente costos de repuesto de la punta prolongando curso de la vida de la punta. El NX20 también ofrece la Muestra Verdadera TopographyTM, la tecnología única del Parque para medir la posición de Z con un Z-Detector de poco ruido industria-de cabeza. Esta característica quita los efectos del overshoot del borde o del deslizamiento piezoeléctrico. La tecnología del AFM del Parque proporciona al FA y los laboratorios del QA con las mediciones extremadamente exactas de la tosquedad superficial para los media y los substratos, la proyección de imagen y el análisis, modo de la revista del defecto de exploración eléctrico de alta resolución y con la exploración XY desemparejada, measurments del flanco para la estructura 3D estudian.

“Como dimensiones críticas encójase y la complejidad del dispositivo aumenta, la calidad de sus datos es crítica para el éxito de su investigación, análisis, y final rendimiento del dispositivo.  El clave a los resultados de la calidad es exactitud en el nanoscale.  Las mediciones Exactas y repetibles significan mayor productividad, mejores análisis y mejores resultados de asunto. Con el Parque NX20 Verdad Modo Sin contacto, puntas del AFM por último un tiempo de 10 veces más largo del ahorro y el dinero. La Muestra Verdadera TopographyTM del Parque NX20 activa el registro superficial exacto de la altura de la superficie de la muestra con su detector de poco ruido de cabeza de la industria Z,” dijo a Ryan Yoo, Vicepresidente de Ventas y del Márketing Globales. El “Parque entiende la necesidad de la industria de un AFM avanzado con un costo de ciclo vital asequible que entregue la exactitud, la productividad y la confiabilidad. Éste es cómo el Parque se ha convertido en el AFM de la opción en la industria del disco duro y del semiconductor.”

Con la introducción del NX20, los Sistemas del Parque lanzan un AFM construido para las necesidades de los laboratorios del FA y del QA. El diseño de muestra de gama alta, grande proporciona a la exactitud y a la productividad exigidas fabricando los semiconductores y los accionamientos de disco, mientras que baja costos de ciclo vital. Él también dirige el futuro con la adaptabilidad de agregar una multitud de modos disponibles del AFM, incluyendo opciones avanzadas y los modos para el FA y el QA que están en el revelado. Las mediciones Técnicas de los datos y de la muestra están disponibles a petición. Para más información haga contacto con por favor psc@parkAFM.com o visite www.parkAFM.com/nx.

Last Update: 27. November 2012 06:18

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