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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

공원 시스템은 NX20를 밝힙니다: 실패 분석과 품질 보증을 위한 세계의 가장 정확한 AFM

Published on November 26, 2012 at 7:52 AM

공원 시스템은 최고 유효한 정확도 및 신뢰도로부터 혜택을 받을 실패 분석 (AFM)을 위한 NX20 (FA), 상한 (QA), 큰 견본 원자 군대 현미경을 및 품질 보증 실험실을 소개합니다.

NX20는 세계의 가장 정확한 AFM를 가진 NX 제품라인의 새 모델입니다. 하드 디스크 드라이브와 반도체 산업에 있는 야전 포병 그리고 QA의 필요를 위해 디자인해, NX20는 보증 장기간에 걸치는 탐사기 끝 날카로움 그것의 필적할 수 없은 비접촉형을 밖으로 뜻합니다. 그것은 소밀 측정과 결점 검토를 위한 고정확도 그리고 반복성에 키입니다. 그것은 또한 높은 생산력 및 가장 낮은 AFM 수명 주기 비용에 중요합니다.


"우리의 기술 기업에 있는 nanoscale 측정을 위한 지나치게 요구하는 응용에서 입증되었습니다,"는 공원 시스템의 박사 노래하 Il 공원, 창시자 및 CEO를 말했습니다. "공원의 나노 과학 해결책으로 AFM 정확도 그리고 그것의 명망에 있는 기술 지도력의 오래된 병력에 NX20 구조는 연구하기 위하여 및 기업 파트너가 됩니다. 우리의 확실한 비접촉형은 매우 더 긴 끝 생활 동안 끝을 보존하고 제공합니다 중요한 분석 필수품을 위해 유효한 가장 정확한 측정 및 심상을." 

야전 포병과 QA를 위한 NX20의 이점은 탐사기 끝이 견본의 표면의 위 믿을 수 있 남아 있는 공원의 확실한 몸의 접촉이 없는 ModeTM, 기업에 있는 가장 단단 응답 시간을 가진 자동 귀환 제어 장치를 두는 분리한 Z 차원에게 감사를 강조합니다. 확실한 몸의 접촉이 없는 ModeTM 공원 기술로 타협 측정 정확도 또는 사용자 생산력 없이 몸의 접촉이 없는 AFM 화상 진찰을 전달합니다. 그것은 또한 끝 일생을 확장해서 극적으로 끝 교체비를 삭감합니다. NX20는 또한 확실한 견본 TopographyTM 의 산업 주요한 저잡음 Z 검출기를 가진 Z 위치 측정을 위한 공원의 유일한 기술을 특색짓습니다. 이 특징은 가장자리 오버슛 piezo 포복의 효력을 제거합니다. 공원 AFM 기술은 야전 포병을 제공하고 매체와 기질을 위한 극단적으로 정확한 표면 거칠기 측정, 결점 검토 화상 진찰 및 분석 의 고해상 전기 검사 최빈값가진 과 분리한 XY 스캐닝, 3D 구조물을 위한 측벽 measurments를 가진 QA 실험실은 공부합니다.

"중요한 차원으로 긴축하거든 장치 복합성은, 데이터의 질 연구, 분석 및 궁극적으로 장치 수확량의 성공을 위해 중요합니다 증가합니다.  질 결과에 키는 nanoscale에 정확도입니다.  정확한 반복 가능 측정은 더 중대한 생산력, 더 나은 분석 및 더 나은 사업 결과를 의미합니다. 공원으로 NX20는 비접촉형, AFM 끝 10 시간 더 긴 저축 시간 및 돈을 최후로 조정합니다. 공원 NX20 확실한 견본 TopographyTM는 그것의 기업 주요한 저잡음 Z 검출기를 가진 견본 표면의 정확한 지상 고도 기록을 가능하게 합니다," Ryan Yoo를 글로벌 판매 및 매매의 부사장 말했습니다. "공원은 정확도, 생산력 및 신뢰도를 전달하는 적당한 수명 주기 비용을 가진 향상된 AFM를 위한 기업 필요를 이해합니다. 이것은 공원이 하드 디스크와 반도체 산업에 있는 선택의 AFM가." 된 방법 입니다

NX20의 소개로, 공원 시스템은 야전 포병과 QA 실험실의 필요를 위해 건축된 AFM를 발사합니다. 상한, 큰 표본 설계는 수명 주기 비용을 낮추고 있는 동안 반도체와 디스크 드라이브를 제조해서 요구된 정확도 및 생산력을 제공합니다. 그것 향상된 선택권을 포함하여 유효한 AFM 최빈값의 군중을, 추가하는 융통성에 미래를 및 발달에 있는 야전 포병과 QA를 위한 최빈값은 또한 제시합니다. 기술적인 데이터와 견본 측정은 신청하는 대로 곧 유효합니다. 추가 정보를 위해 psc@parkAFM.com를 접촉하거나 www.parkAFM.com/nx를 방문하십시오.

Last Update: 27. November 2012 06:17

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