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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

Os Sistemas do Parque Revelam o NX20: O AFM O Mais Exacto do Mundo para a Análise da Falha e a Segurança de Qualidade

Published on November 26, 2012 at 7:52 AM

Os Sistemas do Parque introduzem o NX20, uma parte alta, o microscópio atômico da força da grande amostra (AFM) para a análise da falha (FA) e os laboratórios da segurança (QA) de qualidade que tirarão proveito da melhores precisão e confiança disponíveis.

O NX20 é o modelo o mais novo da linha de produtos de NX com o AFM o mais exacto do mundo. Projetado para as necessidades de FÁ e de QA nas indústrias da movimentação e do semicondutor de disco rígido, o NX20 representa para fora seu modo ímpar do não-contacto que agudeza longa da ponta da ponta de prova das garantias. Aquela é a chave à precisão a mais alta e à repetibilidade para a medida da aspereza e a revisão do defeito. É igualmente chave à produtividade alta e aos mais baixos custos de ciclo de vida do AFM.


“Nossa tecnologia foi provada nos pedidos de exigência para medidas do nanoscale na indústria,” disse o Dr. Parque de Cantar-IL, fundador e CEO de Sistemas do Parque. “As construções NX20 na longa história do Parque da liderança da tecnologia na precisão do AFM e na sua reputação como as soluções da nanotecnologia partner para pesquisar e indústria. Nosso Modo Verdadeiro do Não-Contacto preserva a ponta durante mais tempo derruba a vida e fornece as medidas e as imagens as mais exactas disponíveis para as exigências da análise a mais crítica.” 

As vantagens do NX20 para o FÁ e o QA destacam o Não-Contacto Verdadeiro ModeTM onde a ponta da ponta de prova permanece confiantemente acima da superfície da amostra, agradecimentos do Parque à Z-Dimensão decuplada que posiciona o servo com o tempo de resposta o mais rápido na indústria. Com tecnologia Verdadeira do Parque de ModeTM do Não-Contacto entrega a imagem lactente do AFM do não-contacto sem precisão da medida ou produtividade de comprometimento do usuário. Igualmente reduz dramàtica custos de substituição da ponta estendendo a vida da ponta. O NX20 igualmente caracteriza a Amostra Verdadeira TopographyTM, a tecnologia original do Parque para medir a posição de Z com um Z-Detector de baixo nível de ruído líder de mercado. Esta característica remove os efeitos do overshoot da borda ou do rastejamento piezo. A tecnologia do AFM do Parque fornece o FÁ e os laboratórios do QA com medidas extremamente exactas da aspereza de superfície para media e carcaças, imagem lactente da revisão do defeito e análise, modo de varredura elétrico de alta resolução e com exploração XY decuplada, measurments do sidewall para a estrutura 3D estudam.

“Como dimensões críticas encolha e a complexidade do dispositivo aumenta, a qualidade de seus dados é crítica para o sucesso de seus pesquisa, análise, e finalmente rendimento do dispositivo.  A chave aos resultados da qualidade é precisão no nanoscale.  As medidas Exactas e repetíveis significam a maior produtividade, melhores análises e melhores resultados de negócio. Com Parque NX20 Rectificam o Modo do Não-Contacto, as pontas do AFM por último um tempo de 10 vezes mais longo da economia e o dinheiro. A Amostra Verdadeira TopographyTM do Parque NX20 permite a gravação de superfície exacta da altura da superfície da amostra com seu detector de baixo nível de ruído principal da indústria Z,” disse Ryan Yoo, Vice-presidente de Vendas e do Mercado Globais. O “Parque compreende a necessidade da indústria para um AFM avançado com um custo de ciclo de vida disponível que entregue a precisão, a produtividade e a confiança. Isto é como o Parque se transformou o AFM da escolha na indústria do disco rígido e do semicondutor.”

Com a introdução do NX20, os Sistemas do Parque lançam um AFM construído para as necessidades de laboratórios do FÁ e do QA. A parte alta, grande projecto de amostra fornece a precisão e a produtividade exigidas fabricando semicondutores e unidades de disco, ao abaixar custos de ciclo de vida. Igualmente endereçam o futuro com a flexibilidade adicionar uma multidão de modos disponíveis do AFM, incluindo opções avançadas e os modos para o FÁ e o QA que estão durante o processo de desenvolvimento. As medidas Técnicas dos dados e da amostra estão disponíveis a pedido. Para mais informação contacte por favor psc@parkAFM.com ou visite www.parkAFM.com/nx.

Last Update: 27. November 2012 06:17

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