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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

公园系统揭幕 NX20 : 故障分析和质量保证的世界的最准确的 AFM

Published on November 26, 2012 at 7:52 AM

公园系统介绍将受益于这种最佳的可用的准确性和可靠性的 (AFM) NX20、 (FA)高端,大 (QA)范例基本强制显微镜故障分析的和质量保证实验室。

NX20 是 NX 产品线的最新的设计与世界的最准确的 AFM 的。 设计为 FA 和 QA 的需要在硬盘驱动器和半导体行业, NX20 代表保证长期的探测技巧锋利的其不匹配没有接触的模式。 那是这个关键字对坎坷评定和缺陷复核的高精确度和反复性。 它也是关键的对高生产率和最低的 AFM 生命周期成本。


“我们的技术在对 nanoscale 评定的最过分要求的申请证明在行业”, CEO 博士唱 Il 公园、公园系统的创建者和说。 “NX20 在技术领导的公园的悠久的历史的编译在 AFM 准确性和其名誉的作为纳米技术解决方法成为伙伴研究和行业。 我们真的没有接触的模式保留这个技巧在更长的技巧寿命并且提供最准确的评定和图象可用为关键性分析需求”。 

NX20 的好处 FA 和 QA 的显示探测技巧在这个范例的表面上可靠依然是的公园的真的没有接触的 ModeTM,由于确定有最快速的响应时间的被分离的 Z 维数伺服机在这个行业。 真的没有接触的 ModeTM 公园技术提供没有接触的 AFM 想象,不用影响的评定准确性或用户生产率。 它通过扩大技巧寿命显著也减少技巧重置成本。 NX20 也以真的范例 TopographyTM,评定的 Z 位置公园的唯一技术为特色与一台领先业界的低噪声 Z 探测器。 此功能取消边缘调整量或压力蠕动的作用。 公园 AFM 技术提供 FA,并且 QA 实验室有非常媒体和基体的准确地面粗糙度评定,缺陷复核想象和分析的,高分辨率电子扫瞄方式和有被分离的 X - Y 的扫描的, 3D 结构的侧壁 measurments 学习。

“作为重要维数请收缩,并且设备复杂增加,您的数据的质量为您的研究、分析和根本地设备产量的成功是重要的。  质量结果的关键字是准确性在 nanoscale。  准确和可重复的评定意味更加极大的生产率、更好的分析和更好的商业结果。 公园 NX20 最后配齐没有接触的模式、 AFM 技巧 10 次更久的节省额时间和货币。 公园 NX20 真的范例 TopographyTM 启用范例表面准确表面高度记录与其行业主导的低噪声 Z 探测器的”,赖安 Yoo,全球销售额和市场营销的副总裁说。 “公园了解行业需要对于与提供这种准确性、生产率和可靠性的价格合理的生命周期成本的先进的 AFM。 这是公园如何成为选择 AFM 在硬盘和半导体行业的”。

NX20 的简介,公园系统生成为 FA 和 QA 实验室的需要编译的 AFM。 高端,大范例设计提供制造和生产率需求的这个准确性半导体和磁盘驱动器,当降低生命周期成本时。 在开发中 FA 和 QA 的它也解决远期以这种灵活性添加一许多可用的 AFM 模式,包括先进的选项和模式。 技术数据和范例评定应要求是可用的。 对于更多信息请与 psc@parkAFM.com 联系或参观 www.parkAFM.com/nx

Last Update: 27. November 2012 06:16

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