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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

公園系統揭幕 NX20 : 故障分析和質量保證的世界的最準確的 AFM

Published on November 26, 2012 at 7:52 AM

公園系統介紹將受益於這種最佳的可用的準確性和可靠性的 (AFM) NX20、 (FA)高端,大 (QA)範例基本強制顯微鏡故障分析的和質量保證實驗室。

NX20 是 NX 產品線的最新的設計與世界的最準確的 AFM 的。 設計為 FA 和 QA 的需要在硬盤驅動器和半導體行業, NX20 代表保證長期的探測技巧鋒利的其不匹配沒有接觸的模式。 那是這個關鍵字對坎坷評定和缺陷覆核的高精確度和反覆性。 它也是關鍵的對高生產率和最低的 AFM 生命週期成本。


「我們的技術在對 nanoscale 評定的最過分要求的申請證明在行業」, CEO 博士唱 Il 公園、公園系統的創建者和說。 「NX20 在技術領導的公園的悠久的歷史的編譯在 AFM 準確性和其名譽的作為納米技術解決方法成為夥伴研究和行業。 我們真的沒有接觸的模式保留這個技巧在更長的技巧壽命并且提供最準確的評定和圖像可用為關鍵性分析需求」。 

NX20 的好處 FA 和 QA 的顯示探測技巧在這個範例的表面上可靠依然是的公園的真的沒有接觸的 ModeTM,由於確定有最快速的響應時間的被分離的 Z 維數伺服機在這個行業。 真的沒有接觸的 ModeTM 公園技術提供沒有接觸的 AFM 想像,不用影響的評定準確性或用戶生產率。 它通過擴大技巧壽命顯著也減少技巧重置成本。 NX20 也以真的範例 TopographyTM,評定的 Z 位置公園的唯一技術為特色與一臺領先業界的低噪聲 Z 探測器。 此功能取消邊緣調整量或壓力蠕動的作用。 公園 AFM 技術提供 FA,并且 QA 實驗室有非常媒體和基體的準確地面粗糙度評定,缺陷覆核想像和分析的,高分辨率電子掃瞄方式和有被分離的 X - Y 的掃描的, 3D 結構的側壁 measurments 學習。

「作為重要維數请收縮,并且設備複雜增加,您的數據的質量為您的研究、分析和根本地設備產量的成功是重要的。  質量結果的關鍵字是準確性在 nanoscale。  準確和可重複的評定意味更加極大的生產率、更好的分析和更好的商業結果。 公園 NX20 最後配齊沒有接觸的模式、 AFM 技巧 10 次更久的節省額時間和貨幣。 公園 NX20 真的範例 TopographyTM 啟用範例表面準確表面高度記錄與其行業主導的低噪聲 Z 探測器的」,賴安 Yoo,全球銷售額和市場營銷的副總裁說。 「公園瞭解行業需要對於與提供這種準確性、生產率和可靠性的價格合理的生命週期成本的先進的 AFM。 這是公園如何成為選擇 AFM 在硬盤和半導體行業的」。

NX20 的簡介,公園系統生成為 FA 和 QA 實驗室的需要編譯的 AFM。 高端,大範例設計提供製造和生產率需求的這個準確性半導體和磁盤驅動器,當降低生命週期成本時。 在開發中 FA 和 QA 的它也解決遠期以這種靈活性添加一許多可用的 AFM 模式,包括先進的選項和模式。 技術數據和範例評定應要求是可用的。 對於更多信息請請與 psc@parkAFM.com 聯繫或參觀 www.parkAFM.com/nx

Last Update: 27. November 2012 06:16

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