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Bruker 的創新 AFM 模式 PeakForce 開發達到關鍵重要事件

Published on November 27, 2012 at 3:33 AM

Bruker 宣佈了在 2012 材料研究社團 (MRS)秋季會議上其獨有的 PeakForce 開發的技術最近超過了 100 被評論的發行標記。 採用的此費率比 Bruker 的 TappingMode 極大,因為在 20 世紀 90 年代初其生成,被認為掃描探測顯微學主要想像模式。

PeakForce 開發是在給在生物和材料學應用的定量 nanomechanical 和 nanoelectrical AFM 描述特性帶來史無前例的基本解決方法想像和易用所有權想像模式後的 Bruker 的套件的啟用的技術。

「通過適用一精密地受控,在每像素的極低的強制響應曲線, PeakForce 開發保護兩脆弱的探測,并且沒有減少的範例在分辨率」, Bruker 納諾表面分部說標記 R. Munch、 Ph.D。,總統, Bruker 蓆子組和。 「這從在許多方面有益於我們的客戶,能使用與各種各樣的範例的 AFM 和達到真的基本解決方法到我們的給予專利的 ScanAsyst,自動地和不斷地監控圖像質量并且做適當的參數調整」。

「PeakForce 開發的技術越來越成為先進的機械,電子和化工納諾描述特性的核心構件」,被添加的大衛 V. Rossi,行政 Bruker 的 AFM 商業的副總裁和總經理。 「我們更加進一步 functionalizing 此技術通過程序包例如 PeakForce QNM,利用開發 PeakForce 強制回應的數據得到在大範圍的定量 nanomechanical 信息。 在此技術基礎上的其他最近改進包括映射與 PeakForce 金槍魚和表面潛在的先進的傳導性映射與 PeakForce KPFM。 仅 Bruker AFMs 產生全部存取的用戶這些強大的新的功能」。

關於 PeakForce 開發

通過準確的評定技術和力控制算法 PeakForce 開發的許可證使用減少的想像強制,保護兩個脆弱的探測和範例和增加分辨率。 在開發的 PeakForce,強制距離曲線獲得在圖像的每像素; PeakForce QNM 分析此數據實時得到定量 nanomechanical 信息。 ScanAsyst 自動化 PeakForce 開發的,保存的時間和工作成績所有 AFM 用戶的。 PeakForce 開發也集成幾個電子描述特性模式,允許用戶同時調查電子屬性與 nanomechanical 特性和地勢。

來源: http://www.bruker.com

Last Update: 28. November 2012 07:25

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