JEOL США, ведущий поставщик электронных кинескопов и научные приборы для нанотехнологии, объявленные сегодня что она выполнял установку и принятие своего первого микрозонда электрона излучения теплового поля в Соединенные Штаты. Микрозонд был установлен на NIST в Gaithersburg, Мэриленд, в одну из лабораторий мира наиболее технически предварительных для превращаясь новых видов технологии и стандартов для широкого диапазона полей нанотехнологии.
Электронный кинескоп JEOL JXA-8500F
Полн-автоматизировать, microanalyzer штанги с датчиком электронов высок-объём разностороннее (EPMA), JEOL JXA-8500F уникально тип электронного кинескопа с аналитически способностью которая перегоняет то из даже самых предварительных электронных кинескопов скеннирования (SEM) доступных сегодня. Пока большинств изготовления и исследователя выбирают SEM, EPMA имеет больше из рынка ниши для клиентов требуя типичных количественных результатов и сбора информации.
Способность одновременно использовать спектрометр рентгеновского снимка энергии дисперсивный (EDS) и до 5 увеличений спектрометров рентгеновского снимка длины волны дисперсивные (WDS) быстро проходят для элементного анализа nanometric зон образца. Все исклучая несколько из элементов на периодической таблице можно проанализировать. В результате, этот «супер» микрозонд идеально для полей материалов, геологохимических, и petrological.
JXA-8500F единственное EPMA для использования Schottky-Типа пушки излучения поля. Диаметр зонда 1/10th размер обычных зондов.
«Эта новая пушка FE позволяет нам проанализировать весьма малые характеристики путем работать на низком kV и высоких токах пучка лучей,» Карл Нильсен, недостаток - президент JEOL США, Inc. «Аналитически способность этой аппаратуры делает ее возможной измерить характеристики и отобразить их при разрешение причаливая 100 нанометрам.»
Аналитически способность микрозонда приходит на более высокая цена чем SEM, Нильсен добавляют, замечающ что цена около 20% более сильно чем обычное EPMA. JEOL, с штабами в Akashima, Япония, лидер рынка в сбываниях микрозондов.
JXA-8500F использует спектрометрирование Рентгеновского Снимка и позволяет для быстрого хода, анализа высокой точности качественного и количественного глубокого поверхностного так же, как анализа зоны.
JEOL Отделывают Поверхность номенклатура товаров Анализа состоятся из 3 категорий: Сверло Microanalyzers, Штанга с Датчиком Электронов Microanalyzers (EPMA), и Спектрометры Фотоэлектрона.