Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

JEOL США Выполняет «Супер» Установку Микрозонда на NIST

Published on August 6, 2007 at 1:24 PM

JEOL США, ведущий поставщик электронных кинескопов и научные приборы для нанотехнологии, объявленные сегодня что она выполнял установку и принятие своего первого микрозонда электрона излучения теплового поля в Соединенные Штаты. Микрозонд был установлен на NIST в Gaithersburg, Мэриленд, в одну из лабораторий мира наиболее технически предварительных для превращаясь новых видов технологии и стандартов для широкого диапазона полей нанотехнологии.

Электронный кинескоп JEOL JXA-8500F

Полн-автоматизировать, microanalyzer штанги с датчиком электронов высок-объём разностороннее (EPMA), JEOL JXA-8500F уникально тип электронного кинескопа с аналитически способностью которая перегоняет то из даже самых предварительных электронных кинескопов скеннирования (SEM) доступных сегодня. Пока большинств изготовления и исследователя выбирают SEM, EPMA имеет больше из рынка ниши для клиентов требуя типичных количественных результатов и сбора информации.

Способность одновременно использовать спектрометр рентгеновского снимка энергии дисперсивный (EDS) и до 5 увеличений спектрометров рентгеновского снимка длины волны дисперсивные (WDS) быстро проходят для элементного анализа nanometric зон образца. Все исклучая несколько из элементов на периодической таблице можно проанализировать. В результате, этот «супер» микрозонд идеально для полей материалов, геологохимических, и petrological.

JXA-8500F единственное EPMA для использования Schottky-Типа пушки излучения поля. Диаметр зонда 1/10th размер обычных зондов.

«Эта новая пушка FE позволяет нам проанализировать весьма малые характеристики путем работать на низком kV и высоких токах пучка лучей,» Карл Нильсен, недостаток - президент JEOL США, Inc. «Аналитически способность этой аппаратуры делает ее возможной измерить характеристики и отобразить их при разрешение причаливая 100 нанометрам.»

Аналитически способность микрозонда приходит на более высокая цена чем SEM, Нильсен добавляют, замечающ что цена около 20% более сильно чем обычное EPMA. JEOL, с штабами в Akashima, Япония, лидер рынка в сбываниях микрозондов.

JXA-8500F использует спектрометрирование Рентгеновского Снимка и позволяет для быстрого хода, анализа высокой точности качественного и количественного глубокого поверхностного так же, как анализа зоны.

JEOL Отделывают Поверхность номенклатура товаров Анализа состоятся из 3 категорий: Сверло Microanalyzers, Штанга с Датчиком Электронов Microanalyzers (EPMA), и Спектрометры Фотоэлектрона.

Last Update: 15. January 2012 04:27

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit