JEOL 美国完成 “超级”微探针安装在 NIST

Published on August 6, 2007 at 1:24 PM

纳米技术的 JEOL 美国、电子显微镜的一个主导的供应商和科学仪表,今天宣布它在美国完成了其第一根热量场致发射电子微探针安装和接受。 微探针被安装了在 NIST 在 Gaithersburg,马里兰,在其中一个开发的新技术和标准世界的最技术上先进的实验室中各种各样的纳米技术域的。

JEOL JXA-8500F 电子显微镜

全自动,高处理量多才多艺的电子探针 microanalyzer (EPMA), JEOL JXA-8500F 是电子显微镜的一种唯一类型有今天超过可用那甚而最先进的扫描的电子显微镜 (SEM)的分析能力的。 当多数制造商和研究员选择 SEM 时, EPMA 有更多需要最终定量结果的客户的小生境市场和数据收集。

这个能力同时使用能源分散性 X 射线分光仪 (EDS) 和五个波长分散性 X 射线分光仪 (WDS) 增量为对 nanometric 范例区的元素分析加速。 可以分析所有除了一些在这个周期表的要素。 结果,此 “超级”微探针对材料,地质和岩石学的领域是理想的。

JXA-8500F 是使用一杆肖特基型的场致发射枪的唯一的 EPMA。 探测直径是 1/10th 常规探测的范围。

“此新的 FE 枪允许我们通过运行分析非常小的功能在低 kV,并且高光束当前”,查尔斯尼尔森, JEOL USA, Inc. 的副总统 “此仪器的分析能力使成为可能评定功能和映射他们与处理一百毫微米的解决方法”。

微探针的分析能力比 SEM,尼尔森添加,注意到来以一个更高的价,这个价格约为 20% 高于常规 EPMA。 JEOL,与总部在 Akashima,日本,是在微探针销售额的市场带头人。

JXA-8500F 使用 X-射线光谱并且允许高速、高精确度定性和定量详细表面分析以及区分析。

JEOL 出现分析产品线包括三个类别: 木钻 Microanalyzers,电子探针 Microanalyzers (EPMA) 和光电子分光仪。

Last Update: 14. January 2012 22:35

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