JEOL美國完成在NIST的“超級”探針安裝

Published on August 6, 2007 at 1:24 PM

JEOL美國 ,電子顯微鏡和納米技術的科學儀器的領先供應商,今天宣布,它已經完成安裝及驗收在美國第一次熱場發射電子探針。探針安裝在NIST在美國馬里蘭州蓋士堡,,在世界上技術最先進的實驗室開發的納米技術領域的廣泛的新技術和新標準之一。

JEOL JXA - 8500F的電子顯微鏡

一個完全自動化,高通量多功能電子探針 microanalyzer(EPMA),JEOL JXA - 8500F的電子顯微鏡與分析能力,即使是最先進的掃描電子顯微鏡(SEM),超過當今的獨特類型。雖然大多數廠家和研究人員選擇了掃描電鏡,電子探針有更多的利基市場為客戶需要的最終定量結果和數據採集。

納米樣本地區為元素分析的能力,同時利用能量色散X射線光譜儀(EDS)和最多五個波長色散X射線光譜儀(WDS)的增加速度。但元素週期表上的元素數進行分析。因此,這種“超級”探針的材料,地質,岩石學領域的理想選擇。

JXA - 8500F是唯一的電子探針,使用肖特基型場發射槍。探頭直徑的十分之一大小的常規探頭。

“這個新的FE槍,讓我們來分析低千伏及遠光燈電流非常小的特點,”JEOL(美國)公司副總裁查爾斯尼爾森,“該儀器的分析能力使得它可以測量功能,並將它們映射一項決議,接近一百年納米。“

探針分析能力,在更高的價格比在SEM尼爾森補充說,注意到價格是20%左右,比傳統的電子探針高。 JEOL,總部在日本Akashima,,是在市場銷售的柱石領先地位。

JXA - 8500F採用的X射線光譜和允許為高速,高精確度的定性和定量的表面深入分析以及區域分析。

JEOL的表面分析產品線包括三大類:螺旋Microanalyzers,Microanalyzers電子探針(EPMA)和光電子光譜儀。

Last Update: 11. October 2011 02:38

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