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ZEISS ULTRA más - Descubrimiento en la Proyección De Imagen de la Ultra-Alto-Resolución de Muestras No-Conductoras

Published on August 8, 2007 at 11:32 AM

Carl Zeiss SMT presenta en la Microscopia y el Análisis 2007 su desarrollado recientemente “ULTRA más” el Microscopio Electrónico De Exploración (SEM) con la tecnología única para la remuneración de la carga de muestras no-conductoras. Por primera vez, las imágenes de la alta resolución, estables y sin ruido de muestras tales como cerámica, polímeros, fibra óptica y mucho más se pueden obtener incluso en el alto voltaje de aceleración y la alta corriente de la antena. Este adelanto tecnológico fue desarrollado específicamente para las demandas de los clientes cada vez mayores satisfactorias en la investigación, el revelado y la prueba analíticos de materiales avanzados. Con el fin de la neutralización de la carga, un sistema propietario de la gas-inyección activa para una aplicación enrasada local de un gas inerte. De Tal Modo, el cargar electroestático de muestras se neutraliza y la detección de los electrones secundarios (SE) así como de los electrones retrorreflejados (EEB) llega a ser posible. Las aplicaciones Numerosas en ciencias de la vida, análisis de materiales y semiconductores se beneficiarán de este revelado.

Termine el sistema de detección en ULTRA más

Usando el nuevo sistema propietario de la gas-inyección, el uso del detector único así como del detector del EsB del en-lente (Retrorreflejado selectivo del SE del en-lente de la Energía) de la campo-emisión industria-probada de ZEISS ULTRA SEM llega a ser posible. De Tal Modo, las muestras no-conductoras se pueden investigar por primera vez en ULTRA no sólo bajo condiciones de baja tensión de la proyección de imagen, pero también en la corriente de alto voltaje y alta de la antena para utilizar las funciones completas de llevar ULTRA capacidades del microscopio. Así como el detector de AsB (Retrorreflejado selectivo del Ángulo) para los electrones retrorreflejados del inferior-ángulo que revelan la orientación ponga en contraste así como el detector compartimiento-montado de Everhart Thornley para el contraste topográfico, ULTRA más ofertas un sistema de detección completo para todas las aplicaciones en muestras conductoras así como no-conductoras.

Gran variedad de configuraciones del específico del cliente

Para cubrir las diversas demandas de los clientes, el nuevo y el único ULTRA más sistema se pueden adaptar a una amplia variedad de pliegos de condiciones de sistema. Hay opcionalmente un bloqueo de la carga de 80 milímetros disponible con un rato de la bomba de tan poco como 30 segundos. También disponible sea un escenario motorizado eucentric estupendo de 6 hachas con una repetibilidad de la ubicación del 1µm. Una característica de sistema muy útil es una rotación del haz del 100µm, que permite la investigación de un campo visual bastante grande sin la mudanza de la muestra mecánicamente. El modo de OptiProbe activa un ajuste contínuo de la corriente del haz a partir de PA el 12 a nA 40. Por Otra Parte, el supuesto modo reservado activa cambiar del prepump del vacío, teniendo en cuenta ahorros del hasta 40% en el consumo de energía.

ULTRA más sistema esté disponible en octubre de 2007.

Last Update: 17. January 2012 10:19

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