Horiba Jobin Yvon расширяло возможность представления ellipsometer UVISEL спектроскопическим модулируемого участком с внедрением рефлектометра VIP DUV Спектроскопического. Ellipsometer и рефлектометр высокой точности сочетание из измеряя на таком же положении образца позволяют характеризации характеристик как малых как 10 микронов.
Участок UVISEL спектроскопический модулировал ellipsometer интегрированное с рефлектометром VIP DUV Спектроскопическим
Применения UVISEL VIP включают измерение толщины фильма, R.I. и отражательной способности тонких фильмов и разнослоистых стогов с очень высокой точностью.
добавлением обширного района отображая этапы размера 200mm, 300mm и выше, и с интегрированным ПО распознавания по образцу UVISEL VIP могл характеризовать сделанные по образцу материалы найденные в вафлях полупроводника, материалы дисплея, структуры OLED и биосенсоры при толщины колебаясь от немного ангстромов к нескольким 10 микронов.
Хорошо доказанный пакет программ DeltaPsi2 контролирует полную аппаратуру, и обеспечивает простой интерфейс для продукции, опытного завода и применений исследования.