Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Difractómetro Con la Óptica de la Viga Transversal Y la Pequeña Huella Release/versión Por Rigaku

Published on August 30, 2007 at 9:25 AM

Rigaku Americas Corporation anunció la introducción del difractómetro de la Radiografía de Ultima IV, un instrumento de fines generales avanzado de la difracción (XRD) de Radiografía para la ciencia material, el semiconductor, y la garantía de la investigación y desarrollo de la nanotecnología así como de calidad para el ambiente de fabricación. Las características del diseño un nuevo detector de alta velocidad para mediciones más rápidas 100X, adaptabilidad incomparable de la aplicación proporcionaron por la Óptica patentada de la Viga Transversal (CBO), Y un 50% más tamaño pequeño que un sistema convencional de XRD.

Innovador por diseño, un Rigaku completo optioned Ultima IV puede atravesar las aplicaciones que habrían requerido hasta cuatro instrumentos convencionales separados de XRD en el pasado. Una plataforma modular de la “acumulación” permite que los utilizadores agreguen capacidades adicionales mientras que los requisitos de una nueva aplicación se presentan, incluyendo el soporte para la difracción de alta resolución, la medición de la película fina, la difracción micra, y manejar muestras muy pequeñas.

El Ultima IV se equipa (los E.E.U.U. 6.807.251) de un mecanismo único y patentado de la Óptica de la Viga Transversal (CBO) Que permita la transferencia seleccionable por el usuario entre un enfoque o el haz de Radiografía paralelo del incidente sin reajustar o realinear el sistema óptico. Ambas geometrías del sistema se montan permanente y se alinean permanente para permitir el cambio fácil para diversas aplicaciones. El resto de los sistemas competitivos de la difracción de radiografía requieren la reconfiguración del sistema cuando operación de transferencia del sistema entre el enfoque y geometrías paralelas del haz. Además, la nueva óptica para la difracción micra proporciona a calidad de los datos cerca de eso proporcionada por un sistema dedicado del microdiffraction.

El nuevo Ultima IV es también debe más eficiente que un instrumento convencional de XRD, ocupando el 50% menos espacio y teniendo 20% menos Massachusetts. Una huella del reductor significa recursos más inferiores por encima para una costo-de-propiedad reducida (COO). Además, la altura del escenario de la muestra es 300 milímetros más inferior que un sistema convencional de XRD para la facilidad de empleo. Dimensiones de Ultima IV: 1100 milímetros W x 810 milímetros D x 1630 milímetros H.

Last Update: 17. January 2012 10:02

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit