Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Diffractometer Con l'Ottica della Trave Incrociata E la Piccola Orma Rilasciate Da Rigaku

Published on August 30, 2007 at 9:25 AM

Rigaku Americas Corporation ha annunciato l'introduzione del diffractometer dei Raggi X di Ultima IV, uno strumento per tutti gli usi avanzato (XRD) di Diffrazione ai raggi X per scienza dei materiali, semiconduttore e ricerca e sviluppo come pure assicurazione di qualità di nanotecnologia per l'ambiente di fabbricazione. Le caratteristiche del progetto un nuovo rivelatore ad alta velocità per le misure più veloci 100X, la flessibilità impareggiabile dell'applicazione hanno fornito dall'Ottica brevettata della Trave Incrociata (CBO) E da un 50% più di piccola dimensione di un sistema convenzionale di XRD.

Innovatore da progettazione, un Ultima completamente optioned IV di Rigaku può misurare le applicazioni che avrebbero richiesto fino a quattro strumenti convenzionali separati di XRD nel passato. Una piattaforma modulare “di accumulazione„ permette che gli utenti aggiungano le capacità supplementari mentre i requisiti di nuova applicazione sorgono, compreso contributo alla diffrazione di alta risoluzione, alla misura della pellicola sottile, alla micro diffrazione ed a trattare i campioni molto piccoli.

L'Ultima IV è fornito (gli STATI UNITI 6.807.251) di un meccanismo unico e brevettato dell'Ottica della Trave Incrociata (CBO) Che permette la commutazione selezionabile dall'utente fra una messa a fuoco o il raggio di Raggi X parallelo di incidente senza risistemare o allineare nuovamente il sistema ottico. Entrambe Le geometrie del sistema permanentemente saranno montate e permanentemente saranno state allineate per permettere il cambiamento facile per le applicazioni differenti. Tutti I altri sistemi non Xerox di diffrazione ai raggi X richiedono la riconfigurazione del sistema quando l'esercizio di commutazione del sistema fra messa a fuoco e la parallela irradia le geometrie. Inoltre, la nuova ottica per la micro diffrazione fornisce la qualità di dati vicino a quello fornito da un sistema dedicato di microdiffraction.

Il nuovo Ultima IV è egualmente deve più efficiente che uno strumento convenzionale di XRD, occupando 50% meno spazio ed avendo 20% meno Massachusetts. Un'orma di diminuzione significa gli impianti più bassi al di sopra per una costo-de-proprietà diminuita (COO). Inoltre, l'altezza della fase del campione è 300 millimetri più bassa di un sistema convenzionale di XRD per facilità di uso. Misure di Ultima IV: 1100 millimetri W x 810 millimetri D x 1630 millimetri H.

Last Update: 17. January 2012 10:50

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit