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Difratômetro Com Optics Feixe Cruz e Pequenas Footprint Lançado por Rigaku

Published on August 30, 2007 at 9:25 AM

Rigaku Americas Corporation anunciou o lançamento do IV Ultima difratômetro de raios-X, um avançado de propósito geral difração de raios X (XRD) instrumento de ciência dos materiais, semicondutores e nanotecnologia pesquisa e desenvolvimento, bem como a garantia de qualidade para o ambiente de produção. O projeto apresenta um detector de velocidade nova alta para as medidas 100X mais rápido, flexibilidade de aplicação patenteada pela inigualável desde Cruz Feixe Optics (CBO), e um tamanho 50% menor do que um sistema convencional de DRX.

Inovadores, design, totalmente optioned Rigaku Ultima IV pode abranger aplicações que teria exigido até quatro instrumentos convencionais XRD no passado. Uma plataforma modular 'build-up "permite aos usuários adicionar recursos adicionais como os requisitos das aplicações novas surgem, incluindo suporte para difração de alta resolução, medição de película fina, difração de micro e manipulação de amostras muito pequenas.

A Ultima IV é equipado com um (EUA 6.807.251) Cross exclusiva e patenteada Feixe Optics mecanismo (CBO) que permite ao usuário alternar entre selecionável tanto um foco ou paralela incidente feixe de raios-X sem reiniciar ou o realinhamento do sistema óptico. Duas geometrias do sistema são permanentemente montado e permanentemente alinhados para permitir fácil passagem para diferentes aplicações. Todos os outros sistemas competitivos de difração de raios x exigem reconfiguração do sistema quando se muda funcionamento do sistema entre focalização e geometrias feixe paralelo. Além disso, novas óticas para difração micro fornece dados de qualidade próximo ao proporcionado por um sistema microdiffraction dedicados.

O novo Ultima IV é também devem mais eficiente que um instrumento DRX convencionais, ocupando 50% menos espaço e com massa 20% menos. A pegada de reduzir significa menor sobrecarga facilidades para uma redução do custo de propriedade (COO). Além disso, a altura do palco da amostra é de 300 mm mais baixo do que um sistema convencional para XRD facilidade de uso. Medidas Ultima IV: 1100 mm x 810 milímetros W x D 1630 milímetros H.

Last Update: 3. October 2011 18:36

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