Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

HeliumJonMikroskop från Carl Zeiss Segrar Wall Street Journal ”TeknologiInnovationUtmärkelse”,

Published on October 30, 2007 at 12:18 PM

Dr. Nicholas P. Economou och Räkning Avvärjer från Carl Zeiss SMT, Inc., Peabody, Massachusetts, mottog för en tid sedan Wall Street Journal ”TeknologiInnovationUtmärkelsen” 2007. Utmärkelsen framlades i kategorien av ”Material, och Annan Baserar Teknologier” för utvecklingen av mikroskopet för ORION™-heliumjonen. Wall Street Journal tilldelade prisen som baserades på ORIONTM-teknologins löfte av ”en markant förbättrad upplösning över bredare använda elektronmikroskop.”,

Avvärja den främsta uppfinnaren av heliumjonmikroskopet, och sade chefen technologist på Carl Zeiss SMT, Inc., ”behas Vi extremt för att ha känts igen av denna berömda utmärkelse. Vi har framlagt genombrottteknologi i både fysik och microscopy, som tillåtet vi som ska kommas med för att marknadsföra en riktigt revolutionär produkt som resultat av vårt, driver av innovation och det hängivna arbetet av folket bak produkten.”,

”Intresserar Kunden är mycket kicken, och vi har redan lyckat installerat ORIONTM-mikroskopet på nyckel- kunder, däribland U.S.-MedborgareInstitutet för Normal, och Teknologi (NIST) i Gaithersburg, Maryland”, sade Economou, vice verkställande direktör av Carl Zeiss SMT, Inc. och enuppfinnare av heliumjonmikroskopet.

Mikroskopets den privat källteknologin baseras på immateriell rättighet som framkallas ursprungligen av ALIS Korporation, en Peabody, Massachusetts baserade det start-up företaget som fås av Carl Zeiss SMT i 2006.

Last Update: 23. January 2012 11:24

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit