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Horiba Jobin Yvon に排他的な新しい材料分析の識別ソフトウェア

Published on December 7, 2007 at 11:44 AM

HORIBA Jobin Yvon は、 xk、株式会社スライスの排他的な提供者に、分光ライブラリ識別および分類の探検家との合意になる達した XRF のコミュニティにことを発表するために喜びます。 スライスは X 線スペクトルをアーカイブし、問い合わせ、比較するように設計されている Windows アプリケーションで材料分析に革命的な新しいアプローチを表します。

スライスは FBI の契約の下で時間を減らし、証拠の識別の正確さを改善し、興味のスペクトルとスペクトルをの画像、テキストおよび他のタイプ関連付けることができる高度のアーカイブのツールを作成するために開発されました。 それは事実上どの材料でも (粉、グリース、爆発性の残余、等) 見つけることができる、および使用は企業の広い範囲の汚染物の分析に今、薬剤、自動車を含んで、および半導体拡張されています法廷の実験室の広く利用されたツールになりました。

スライスはショー Windows データベースの同じような X 線スペクトルの集められたスペクトルの比較生じます。 適合パラメータのある程度は未知数からのスペクトルが一致スペクトルに一貫している、団体会員パラメータはどれだけうまく特定のグループの内のスペクトル適合の測定を提供します程度を測定し。

スライスは要素の識別および慣習的な数量化解析ルーチンを行い、ログで、二乗根表示される、視覚確認に強力な援助を提供するためにスペクトルがか線形モード、インクレメンタルに重複することができる一義的な表示機能を特色にします。 スペクトルの番号は選択し個々のスペクトルは単一のマウスクリックによって不規則に回すことができます。 スペクトルはカーソルの位置または分光比較のそれ以上の援助への個々のピークで選別され、急上昇し、動的に正規化することができます。

Last Update: 17. January 2012 00:33

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