Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Beeldvorming aan het oppervlak en analyse software van Agilent breidt het toepassingsgebied van atomic force microscopen

Published on January 18, 2008 at 10:56 AM

Agilent Technologies, Inc . introduceerde Pico Image, een modulair atomic force microscoop (AFM) beeldvorming en analyse software pakket ontwikkeld voor AFM gebruikers die werken in een breed scala van onderzoek toepassingen, waaronder life sciences en material sciences. Pico Image analyses beeldgegevens en genereert dynamische, zeer gedetailleerde oppervlakte-analyse rapporten met ongekende kracht en gemak.

Agilent Technologies

"Pico Image is nu geïntegreerd in de PicoView software platform voor onze complete lijn van AFMs, waaronder de 5400 en 5500," aldus Jeff Jones, operations manager voor Agilent AFM faciliteit in Chandler, Arizona. "Pico Image kunnen onze klanten eenvoudig te visualiseren en analyseren van de structuren en eigenschappen van hun monsters."

Elke Pico Beeldanalyse document bestaat uit een set frames met daarin: oppervlakken, profielen uit oppervlakken, de resultaten van de toepassing van filters en andere exploitanten, analytische studies, en 2D-en 3D-parameters die voldoen aan internationale normen. Real-time 3D beeldvorming biedt uitstekende visualisatie. Video's van de vliegroutes over een oppervlak kan ook worden geïntegreerd in Pico Image presentaties. De software van de intuïtieve desktop publishing-interface, uitgebreide online hulp en meertalige ondersteuning verhogen het gebruiksgemak.

Pico Image bevat drie prestatieniveaus en biedt functie stelt dat de behoeften van basis-, geavanceerde en ervaren gebruikers te voldoen, respectievelijk. Geavanceerde functies omvatten de mogelijkheid om een ​​oppervlak te zetten in een reeks van profielen, berekenen de gelijkenis van de verschillende oppervlakken, het genereren van sub-oppervlakken, en het uitvoeren van fractal-analyse. Analyse van deeltjes en statistieken mogelijkheden worden ook aangeboden. Standalone en netwerk licenties zijn beschikbaar.

Last Update: 27. October 2011 16:53

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit