Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Изображений поверхности и программное обеспечение для анализа от компании Agilent расширяет сферу атомно-силовых микроскопов

Published on January 18, 2008 at 10:56 AM

Компания Agilent Technologies, Inc . представила Пико изображения, модульная атомно-силовой микроскоп (АСМ) изображений и пакет программного обеспечения для анализа предназначена для пользователей, AFM, работающих в широком диапазоне исследовательских целей, в том числе биологических наук и наук о материалах. Пико изображения анализ данных изображения и создает динамичные, высоко детализированные отчеты анализа поверхности с беспрецедентной силой и легкостью.

Компания Agilent Technologies

"Пико изображения теперь интегрированы в PicoView программная платформа для нашего полного ассортимента АСМ, в том числе 5400 и 5500," сказал Джефф Джонс, Operations Manager для АСМ объекта компании Agilent в Чандлер, штат Аризона. "Пико изображения позволяет нашим клиентам легко визуализировать и анализировать структуры и свойств их образцы."

Каждый анализ Пико изображения документ состоит из набора кадров, содержащих: поверхностей, профилей, извлеченные из поверхностей, результаты применения фильтров и других операторов, аналитических исследований, а также 2D и 3D параметрами, которые соответствуют международным стандартам. В реальном времени 3D визуализации обеспечивает отличную визуализацию. Видео траектории полета над поверхностью также может быть интегрирован в презентации Пико изображение. Интуитивное программное обеспечение настольных издательских интерфейс, всеобъемлющую онлайновую помощь, и многоязыковая поддержка повышения простоты использования.

Пико изображения содержит три уровня производительности, предлагая набор функций, которые отвечают потребностям основной, продвинутый, и для опытных пользователей, соответственно. Сложные функции включают возможность преобразования поверхности в серии профилей, вычислить сходство различных поверхностей, порождают суб-поверхностях, а также выполнять фрактальный анализ. Анализ частиц и статистические данные опции также предлагается. Автономные и сетевые лицензии имеются.

Last Update: 3. October 2011 05:57

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit