FEI und Malvern Verbünden sich auf Hoch entwickelter Partikel-Kennzeichnungs-Anlage

Published on March 4, 2008 at 10:24 AM

FEI Firma und Malvern Instruments Ltd. haben Quantümer Morphologi, eine starke neue Lösung freigesetzt, welche die Leistung des Rasterelektronenmikroskops Quantümer FEG FEIS und Malverns der nachgewiesenen Morphologi-Partikelkennzeichnungssoftware kombiniert. Zum ersten Mal überhaupt, haben Quantümer Morphologi-Benutzer, einschließlich pharmazeutische Qualitätskontrollmethoden-Entwicklungslabors, die direkten Berechnungsmethoden, zum von Größe und von Forminformationen über Submikronpartikel einzuholen.

Neues Gerät gibt Größe und Forminformationen über Submikronpartikel

Diese starke Lösung liefert größere Regelung der pharmazeutischen Unternehmen über neuen Produkten und Drogenformulierungen, die Partikelfertigung an in zunehmendem Maße kleineren nanoscale Abmessungen für eine große Vielfalt von hoch entwickelten therapeutischen Anwendungen benötigen.

„In der pharmazeutischen Herstellung, in der Qualitätssicherung und in den Steuerlabors muss, dass Qualitätsstandards ständig für Rohstoffe, Vermittler und Endprodukte entsprochen werden,“ erklärten Matt Harris, Vizepräsident sicherstellen von NanoBiology-Abteilung FEIS. „Teilchengröße und Form können die körperlichen und therapeutischen Eigenschaften von aktiven pharmazeutischen Bestandteilen drastisch ändern. Bis jetzt hat es keine direkten Methoden gegeben, zum von Submikronpartikeln zu kennzeichnen. Die Kombination der Vergrößerung und des Auflösungsvermögens des QuantumsRasterelektronenmikroskops (SEM) mit Malvern-Instrumenten' Industrie-führende Software liefert eine kritische schlüsselfertige Lösung.“

Mit Quantümern Morphologi, sind Benutzer in der Lage, Nachweismethoden für Qualitätskontrollprozeßauslegung zu erstellen, automatisierte Partikelanalyse durchzuführen, Oberflächensonderkommando zu erhalten, und statistische Analyse zu durchzuführen kennzeichnen Sie völlig Teilchengröße- und Formverteilungen. Die wichtigsten morphologischen Parameter für das Unterscheiden eines Sets Proben, wie gute und falsche Beispielstapel, können definiert werden und subtile Änderungen in einem Produkt oder in einem Prozess können betriebsbereit gekennzeichnet werden.

„In der heutigen Pharmaindustrie, die das ` nanonization' von schlecht löslichen aktiven pharmazeutischen Bestandteilen eine der aktuellen Strategien für sich Entwickeln neu, stärkere Drogen ist,“ erklärt Arjen Tinke, allgemeiner Wissenschaftler für Partikelkennzeichnung an pharmazeutischer Forschung und Entwicklung Johnson & Johnsons in Europa. „Offensichtlich, ist die Korngrößenverteilungsanalyse dieser Produkte im R&D-Prozess sowie in der Qualitätskontrolle wesentlich. Mit Quantümern Morphologi ist die erste Technik des absoluten Bearbeitens erhältlich geworden, die aktiviert routinemäßig die Größen- und Formanalyse von einzelnen nanoparticles in den polydispersen Produkten.“

„Quantümer Morphologi ist das Ergebnis unserer Partnerschaft der gemeinsamen Entwicklung mit FEI und wir werden durch seine innovative Leistung,“ kommentierter Ulf Willen, Produktmanager für Malvern-Instrumente erregt. „Wir glauben, dass Benutzer leicht den wichtigen Nutzen erkennen, der entbunden wird durch diese Lösung.“

Die Grobvakuumfähigkeit von SEMs-Angebotbenutzern Quantümer FEIS die Flexibilität, Materialien zu analysieren, ohne viele der traditionellen SEM-Probenaufbereitungsbeschränkungen aufzuerlegen, die Anwendbarkeit für Partikelanalyse dadurch groß ausdehnend. Malverns Morphologi-Partikel-Bildanalysesoftware ist eine nachgewiesene Lösung, die bereits auf Malvern-Anlagen verwendet wird, die traditionelle optische Mikroskope, wie das Morphologi G3 umgeben, durch viele Forschung und gewerbliche Verbraucher auf der ganzen Welt verwendet.

Die Quantümer Morphologi werden diese Woche an Stand 1447 bei der Pittsburgh-Konferenz (Pittcon), 1.-7. März FEIS, in New Orleans gekennzeichnet. Es ist auch der Fokus von einem speziellen webinar gefördert durch FEI- und Malvern-Instrumente am 19. März zur Ostsommerzeit des 2:00 P.M. Interessenten können für das webinar im Voraus registrieren und mehr Informationen über das Produkt bei www.fei.com/ParticleAnalysis einholen.

Last Update: 17. January 2012 01:59

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