Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

FEI en Malvern Team Up op Geavanceerd deeltjes karakterisering systeem

Published on March 4, 2008 at 10:24 AM

FEI Company en Malvern Instruments Ltd . hebben vrijgegeven Quanta morfologische, een krachtige nieuwe oplossing combineert de prestaties van de FEI Quanta FEG scanning electronen microscoop en bewezen morfologische Malvern's deeltjes karakterisering software. Voor de eerste keer ooit zal Quanta morfologische gebruikers, met inbegrip van farmaceutische methode voor kwaliteitscontrole ontwikkelingslaboratoria, hebben directe analyse methoden om zowel de grootte en vorm informatie over de sub-micron deeltjes te verkrijgen.

Nieuwe apparatuur geeft zowel de grootte en vorm informatie over de sub-micron deeltjes

Deze krachtige oplossing zal bieden farmaceutische bedrijven meer controle over nieuwe producten en geneesmiddelen worden dat deeltje vervaardiging op nanoschaal steeds kleinere afmetingen voor een breed scala van geavanceerde therapeutische toepassingen.

"In de farmaceutische industrie, kwaliteitsborging en-controle laboratoria moeten ervoor zorgen dat de kwaliteitsnormen voortdurend voldaan voor grondstoffen, halffabrikaten en eindproducten", aldus Matt Harris, vice-president van NanoBiologie FEI divisie. "Particle grootte en vorm kan drastisch veranderen de fysieke en therapeutische eigenschappen van actieve farmaceutische ingrediënten. Tot nu toe zijn er geen directe methoden om de sub-micron deeltjes te karakteriseren. Het combineren van de vergroting en oplossend vermogen van het Quanta scanning elektronenmicroscoop (SEM) met Malvern Instruments 'toonaangevende software biedt een kritische turnkey oplossing. "

Met Quanta morfologische, zullen gebruikers in staat om referentiemethoden voor kwaliteitscontrole proces ontwerp te maken, geautomatiseerde deeltje analyse uit te voeren, oppervlakte detail te krijgen, en statistische analyse uit te voeren om meer volledig te karakteriseren deeltjesgrootte en vorm distributies. De belangrijkste morfologische parameters om te differentiëren een reeks monsters, zoals de goede en slechte sample partijen, kunnen worden gedefinieerd en subtiele veranderingen in een product of proces kan gemakkelijk worden geïdentificeerd.

"In de farmaceutische industrie van vandaag de 'nanonization' van slecht oplosbare actieve farmaceutische ingrediënten is een van de huidige strategieën voor het ontwikkelen van nieuwe, meer krachtige medicijnen", vertelt Arjen Tinke, principal scientist voor deeltjes karakterisering bij Johnson & Johnson Pharmaceutical Research en ontwikkeling in Europa. "Natuurlijk, de grootteverdeling analyse van deze producten is essentieel in de R & D-proces als in de kwaliteitscontrole. Met Quanta morfologische de eerste absolute sizing techniek beschikbaar is gekomen die routinematig kan de grootte en de vorm analyse van individuele nanodeeltjes in polydispers producten."

"Quanta morfologische is het resultaat van onze gezamenlijke ontwikkeling samenwerking met FEI en we zijn enthousiast door zijn innovatieve prestaties", zegt Ulf Willen, product manager voor Malvern Instruments. "Wij geloven dat gebruikers gemakkelijk de belangrijke voordelen die door deze oplossing te herkennen."

De lage-vacuüm vermogen van FEI Quanta SEM's bieden gebruikers de flexibiliteit om materialen te analyseren zonder dat veel van de traditionele SEM monstervoorbereiding beperkingen, en daarbij flinke uitbreiding van de toepasbaarheid voor de analyse van deeltjes. Malvern's morfologische particle image analyse software is een bewezen oplossing reeds gebruikt voor Malvern systemen die traditionele optische microscopen, zoals de morfologische G3, gebruikt door vele onderzoeks-en industriële gebruikers over de hele wereld omvatten.

De Quanta morfologische zullen worden vertoond deze week op de stand FEI 1447 bij de Pittsburgh Conferentie (Pittcon), 1-07 maart, in New Orleans. Het zal ook de focus van een speciale webinar gesponsord door FEI en Malvern Instruments op 19 maart om 14:00 Eastern Daylight Time. Belanghebbenden kunnen zich inschrijven op voorhand voor de webinar en het verkrijgen van meer informatie over het product aan www.fei.com / ParticleAnalysis .

Last Update: 4. October 2011 00:03

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit