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Nanosensors Introduce el Oro y las Antenas Recubiertas Platino para los Microscopios Atómicos de la Fuerza

Published on May 19, 2008 at 6:25 PM

NANOSENSORS anunció hoy que la introducción de oro nuevo y las versiones recubiertas platino de su especialidad bien conocida sondan el tipo para la Microscopia Atómica de la Fuerza (AFM) -- la antena de AdvancedTEC™ AFM.

Viruta de la Vista Lateral de la Antena de NANOSENSORS AdvancedTEC AFM, de la Punta, del Voladizo y del Soporte

El platinumiridium y las antenas recubiertas oro de AdvancedTEC™ AFM estarán disponibles en diversos constantes de fuerza y de las frecuencias resonantes para mediciones del modo de contacto, sin contacto/el golpear ligeramente del modo y de la fuerza de la modulación del modo.

Estas nuevas variaciones prolongan el rango de las aplicaciones para el AdvancedTEC al Modo de la Fuerza Electroestática (EFM), Microscopia Electroquímica de Exploración (SECM), Modo de Exploración de la Capacitancia (SCM), Microscopia de Exploración de la Antena de Kelvin (SKPM) así como al uso en técnicas de proyección de imagen combinadas por ejemplo: Microscopia Atómica de la Fuerza (AFM) -- Proyección de imagen de la Microscopia Electrónica (SEM) De la Exploración, Infrarroja -- Microscopia Óptica de Nearfield de la Exploración (IR-SNOM) o sistemas Micros-Nanprober Eléctricos.

El AdvancedTEC™ recubierto oro es especialmente interesante para las aplicaciones en los campos de la biología y de las ciencias de la vida como la espectroscopia de la fuerza, la espectroscopia de la fuerza de enlace (mediciones del tirón-lejos) y la espectroscopia química.

La ventaja general del AdvancedTEC es que esta antena monolítica altamente dopada del silicio está diseñada para la colocación exacta y la proyección de imagen de alta resolución. Ofrece un voladizo rectangular con un extremo libre triangular y una punta tetraédrica que resalte del final del voladizo. Esta característica única permite la colocación exacta y hace el AdvancedTEC™ la única antena de la exploración en el mundo que ofrece visibilidad real de la punta a través del sistema óptico del Microscopio Atómico de la Fuerza -- incluso cuando la antena es ligeramente inclinado debido a su montaje. Esto le toma la decisión superior para todas las aplicaciones donde la punta tiene que ser visible (e.g nanomanipulation). La Punta patentada de AdvancedTEC™ es definida por los aviones cristalinos reales que da lugar a geometrías altamente reproductivas y a superficies extremadamente lisas. Debido a su medio cono muy pequeño pesca esta nueva punta con caña también muestra gran funcionamiento en las muestras que tienen una pequeña talla del modelo combinada con las paredes laterales escarpadas.

El AdvancedTEC™ es especialmente interesante para todas las aplicaciones donde está necesario un acceso óptico directo de la parte superior o de la cara para poder iluminar la antena del AFM, la punta del AFM o la muestra simultáneamente con la medición con un laser, el haz electrónico Etc.

Last Update: 11. January 2012 16:29

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