Microspectrophotometer 2010 Технологий QDI CRAIC Обнаруживает и Анализирует Загрязняющие Елементы Следа с Одиночной Аппаратурой

Published on May 26, 2008 at 12:09 PM

Органические и неорганические загрязняющие елементы приборов точности как плоские экраны, приборы MEMS и сделанные по образцу полупроводники часто трудны для того чтобы обнаружить. Много материалов загрязняющего елемента существенно незримы к общим аналитически методам как оптически микроскопия.

Microspectrophotometer Технологий QDI 2010™ CRAIC

CRAIC Технологии, Inc., глобальный руководитель в применени-сфокусированных разрешениях микроанализа, снабубежит возможность и обнаруживает и анализирует загрязняющие елементы следа с одиночной аппаратурой. Это сделано путем совмещать оба ультрафиолетов микроскопия с ультрафиолетов microspectroscopy в microspectrophotometer Технологий QDI 2010™ CRAIC оборудованном с опционным пакетом QDI ImageUV™.

Много органических и неорганических материалов поглощают свет в зоне ультрафиолетова но незримы к нагому глазу. Это значит что стандартная оптически микроскопия не будет обнаружить эти загрязняющие елементы ни она способная анализировать их. Пока другие методы доступны, они требуют обширной подготовки образца и могут повредить образец. Путем использовать ультрафиолетов микро--воображение, пользователь могл быстро, легко и non-destructively обнаруживает местонахождение много загрязняющих елементов. UV microspectroscopy можно после этого выполнить для того чтобы измерить электронные спектральные характеристики загрязняющего елемента для того чтобы определить его. Спектры могут также быть использованы более далее для того чтобы улучшить ясность изображения загрязняющих елементов путем определять длину волны максимального absorbance. Путем совмещать оба метода в microspectrophotometer QDI 2010™, пользователь могл легко обнаружить местонахождение и определить материалы загрязняющего елемента на плоских экранах, обломоках полупроводника, MEMS и даже microfluidic приборах. Microspectrophotometer QDI 2010™ первая система всегда для того чтобы совместить и UV микроскопию и microspectroscopy в одиночном инструменте. Его можно также модернизировать для того чтобы включить ультрафиолетов, видимые и близко ультракрасные отражение, микроскопию пропускаемости и флуоресцирования и microspectroscopy.

Last Update: 15. January 2012 00:17

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit