CRAIC 技术 QDI 2010年显微分光光度计检测并且分析与唯一仪器的跟踪污染物

Published on May 26, 2008 at 12:09 PM

精确度设备有机和无机污染物例如平板显示器、 MEMS 设备和被仿造的半导体经常是难检测。 许多污染物材料根本是无形的对公用分析技术例如光学显微学。

CRAIC 技术 QDI 2010™显微分光光度计

CRAIC Technologies, Inc.,在应用集中的微量分析解决方法的一位全球领导先锋,提供这个功能对检测并且分析与一台唯一仪器的跟踪污染物。 这由结合完成两紫外显微学与紫外 microspectroscopy 在用选项 QDI ImageUV™程序包装备的 CRAIC 技术 QDI 2010™显微分光光度计。

许多有机和无机材料在紫外光区吸收光,但是无形的对肉眼。 这意味着标准光学显微学不能检测这些污染物亦不是它能够分析他们。 当其他技术是可用的时,他们要求广泛的范例准备,并且可以损坏这个范例。 通过使用紫外微型想象,这个用户迅速能,容易地,并且非破坏性请找出许多污染物。 紫外 microspectroscopy 可能然后执行评定污染物的电子光谱特性为了识别它。 光谱可能通过确定最大吸光度波长也用于进一步改进污染物的图象的清晰。 通过结合在 QDI 2010™显微分光光度计的两个技术,这个用户容易地能找出和识别污染物材料在平板显示器、半导体筹码、 MEMS 和甚而 microfluidic 设备。 QDI 2010™显微分光光度计是结合紫外显微学的第一个系统和 microspectroscopy 在一个唯一工具。 它可能也被升级启用紫外,可视和最近红外反射率,透射率和荧光显微法和 microspectroscopy。

Last Update: 14. January 2012 17:08

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