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Physik Instrumente が解放する新しい Nanopositioning の顕微鏡段階

Published on June 11, 2008 at 11:47 AM

PI (Physik Instrumente) はスキャン顕微鏡検査アプリケーションのための piezo 段階のラインを拡張しました。 P-737 Piezo Z 集中の段階は大きい NA の顕微鏡の目的のためのより堅く、 P-726 高性能顕微鏡レンズ集中システムと共におよび 25x25 mm に長い旅行範囲を提供する段階を置く設計し直された P-686 X-Y piezo モーター提供されます。

健康な版が付いている P-737 piezo Z 段階、 PIFOC® レンズのポジシァヨナーおよび M-686 は X-Y 顕微鏡検査の段階絶食します

M-686 X-Y 粗位置は、段階また単一の分子か近いフィールド顕微鏡検査で必要な解像度を提供するために X-Y/Z の nanopositioning スキャンの piezo 段階を取り扱うことができます。 その超音波 piezo モーターは動力を与えられて時でさえ自動閉鎖で、位置を正確に保持します。

P-726 顕微鏡検査客観的な nanopositioning 装置はより大きい断面 piezo 製陶術および設計し直されたたわみ指導システムによる他の顕微鏡集中装置よりかなり高い剛さを提供します。 高い剛さが原因で、システムは集中およびイメージ投射アプリケーションの最大級スループットを提供するためにより速く答え、解決できます。

P-737 標本の Z 段階は deconvolution を利用するバイオテクノロジーの研究の顕微鏡のためにとりわけ設計され、 3D 映像技術、閉ループ制御の下で 500 までの µm 旅行、ミリ秒の敏感さおよびナノメーターの精密な動きを特色にします

適用例

3D イメージ投射、 Z スタック獲得、スキャン顕微鏡検査、人間工学の autofocusing およびアラインメントタスク。

Piezo Z 段階および客観的なステッパー  

P-737 PIFOC の段階は PIFOC® の高速 piezo 客観的な Z ステッパーを補足します。  サンプル段階が PIFOC® の客観的なポジシァヨナーの最新の生成より (より堅い、コンパクトデザインによる) 速く移動できない間、 P-737 PIFOC® の段階は解決するミリ秒のサンプルを可能にしま多重目的および非常に高いスループットの便利な Z スタックイメージ投射を可能にします。

Piezo Z 段階対慣習的なステッピングモーターの焦点駆動機構

P-737 の速い応答は十分に最新のデジタル画像システムの高いスループットを利用し、複数を 10 慣習的なステッピングモーターの焦点駆動機構より倍速い応答達成し、そして消耗を表わしません。

P-737 PIFOC® の段階はいくつかのアナログおよび非常に高度なデジタル piezo コントローラと使用でき、高速 0-10V 入力を通してデジタル・インターフェイスを通して、また速いアナログ信号によって制御されます。  システムはすべての一流イメージ投射獲得のパッケージと完全に対応します。  統合の容易さのために、 LabView ドライバーの総合セットはアナログ制御オプションと含まれています。

機能及び利点

  • 旅行範囲の選択: 100 つの µm または 250 の µm の標準、 500 µm 要求あり次第
  • コントローラの選択: 表示かコンパクトなコントローラとアナログデジタル
  • 最高速度 (ステップごとの数ミリ秒) のために調整する習慣
  • すべての主要な画像の獲得のパッケージと互換性がある
  • ナノメーターの精密な動作制御のためのクローズド・ループ

Last Update: 14. January 2012 19:08

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