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堀場のエリプソメータは、さらに多用途に

Published on June 25, 2008 at 5:22 AM

からUVISEL + RM 堀場ジョバンイボン薄膜フィルムは、 UVISELゴニオメータ上にマウントすることができる新しい独立したリフレクトモジュール(RM)とUVISELの機能を拡張します。低コストのRMモジュールは、モジュールが単純に2本の光ファイバを経由してUVISELのキセノンランプとモノクロメータに接続されているとして、オプションとして、または可視とNIR UVISEL分光エリプソメータのすべての現行モデルのアップグレードのいずれかとして使用可能です。

堀場ジョバンイボン薄膜部門からUVISEL分光エリプソメータ。

RMは、波長範囲210nm以上の垂直入射での反射率の測定を可能にする - 200μmの測定スポットの2100 nm、およびエリプソメトリーおよび反射率測定の統合を通じて、UVISEL + RMはの柔軟性と正確な測定が可能になります。

  • 1Aから30μmの範囲の単一および複数の層フィルムの厚さ、
  • 材料の光学特性(N、K、α)、
  • サンプルの反射率の直接分光測定
  • インターフェイスのための薄膜スタックの正確な記述、粗さ、不均一性...

UVISEL + RMは、大規模材料データベースおよびソフトウェアの強力な解析機能からDeltaPsi2収集システムと利点を使用して動作するように簡単です。困難なアプリケーションの場合には、サンプルの分析のためのエリプソメトリーおよび反射率の測定の両方をバインドすることが可能です。

UVISEL + RMは、太陽光発電、ディスプレイ、光学コーティング、表面処理アプリケーションに最適な柔軟な分光計測プラットフォームです。

Last Update: 20. October 2011 22:10

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