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Ellipsometers Horiba se tornar ainda mais versátil

Published on June 25, 2008 at 5:22 AM

O UVISEL + RM da Horiba Jobin Yvon Films Fino amplia a capacidade do UVISEL com um Módulo de Reflectometria nova e independente (RM) que pode ser montado sobre o goniômetro UVISEL. O módulo RM de baixo custo está disponível como uma opção ou como uma atualização para todos os modelos atuais do Ellipsometers Visível e NIR UVISEL espectroscópicas como o módulo é simplesmente conectado à lâmpada de Xenon e monocromador do UVISEL através de duas fibras ópticas.

O Ellipsometers UVISEL Spectroscopic da Horiba Jobin Yvon Divisão Film Thin.

A RM permite medições de reflectância na incidência normal na faixa de comprimento de onda 210nm - 2100 nm com um ponto de medição 200 mM, e através da integração de elipsometria e reflectometria o UVISEL + RM permite medições flexíveis e precisa de:

  • Espessura de filmes de camada única e múltiplas de 1A a 30 mm,
  • Propriedades ópticas (n, k, α) de materiais,
  • Medições espectroscópicas direta de reflectância da amostra
  • Descrição precisa de pilhas de película fina de interfaces, aspereza, falta de homogeneidade ...

O UVISEL + RM é simples de operar usando o sistema de aquisição de DeltaPsi2 e benefícios do banco de dados materiais grandes e poderosos recursos de análise do software. Para aplicações de difícil é possível vincular tanto elipsometria e medição reflectometria para a análise de uma amostra.

O UVISEL + RM é uma plataforma flexível de metrologia espectroscópicas, que é ideal para os sistemas fotovoltaicos, exibir, revestimentos ópticos e aplicações de tratamentos de superfície.

Last Update: 8. October 2011 06:56

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