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Horiba Ellipsometers 变得更加多才多艺

Published on June 25, 2008 at 5:22 AM

Horiba Jobin Yvon 薄膜的 UVISEL+ RM 扩大 UVISEL 的功能与在 UVISEL 测向计 (RM)可以被挂接的新的独立反射计模块的。 低成本 RM 模块是可用的或者作为选项或作为可视和 NIR UVISEL 的所有当前设计的升级分光镜 Ellipsometers 作为模块被连接到 UVISEL 的氙气灯和单色仪通过二光纤。

UVISEL 从 Horiba Jobin Yvon 薄膜分部的分光镜 Ellipsometers。

RM 允许反射率评定在波长范围 210nm 的正常入射 - 2100 毫微米与一个 200 µm 评定地点和通过 ellipsometry 和反射计的综合化 UVISEL+ RM 启用灵活和准确评定:

  • 和多个层的厚度摄制范围从 1Å 到 30 µm,
  • 光学性能 (n, k, α) 材料,
  • 范例反射率的直接分光镜评定
  • 薄膜栈的准确的说明界面的,坎坷,多相性…

UVISEL+ RM 是简单运行使用 DeltaPsi2 购买系统和福利从这个软件的大材料数据库和强大的分析功能。 对于困难应用束缚对范例的分析的 ellipsometry 和反射计评定是可能的。

UVISEL+ RM 是对光致电压是理想的一个灵活的分光镜计量学平台,显示、光学涂层和表面处理应用。

Last Update: 14. January 2012 16:40

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