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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

Escaparate de Carl Zeiss SMT una Nueva Clase de SEM en la Exhibición de la Microscopia

Published on August 5, 2008 at 11:24 AM

En la Microscopia y la Reunión y la Exhibición del Microanálisis que son celebradas en Albuquerque, New México, Carl Zeiss SMT está introduciendo una nueva clase de SEM: SIGMA. La demanda de los clientes Cada Vez Mayor para la Radiografía de cabeza de la facilidad de empleo y de la clase y la geometría analítica tomó el lugar central cuando el producto fue desarrollado.

La Nueva clase de SEM se centró en tecnología única de los GÉMINIS: SIGMA.

La SIGMA, ofreciendo la tecnología única y probada de GEMINI® de Carl Zeiss, provee de proyección de imagen excepcional y de resultados analíticos de un microscopio de emisión de campo la capacidad para manejar todos los tipos del material. El análisis Material en la alta resolución es proporcionado por la geometría de cabeza de la Radiografía de la clase para la energía y la espectroscopia dispersiva de la longitud de onda (EDS y WDS).

La SIGMA puede manejar los especímenes del diámetro de hasta 250 milímetros y de 145 milímetros de alto. Además, el diseño coplanario del compartimiento proporciona a la geometría ideal para EDS simultáneo y la difracción retrorreflejada del electrón (EBSD).

GEMINI® como el diseño de cabeza de la Emisión de Campo del mercado, la facilidad de empleo incomparable de las ofertas, la proyección de imagen magnífica de la baja tensión y las corrientes ultra estables de la antena para las aplicaciones analíticas.

Last Update: 17. January 2012 08:03

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