KLA-Tencor 今天揭幕坎德拉硬盘驱动器基体和媒体的先进的缺陷检验和分类的 7100 系列。 编译在生产证明的坎德拉线路，这 7100 系列被设计帮助制造商识别和分类亚微型关键缺点例如坑，爆沸、微粒和被埋没的缺陷，最大化产量和降低的检验的费用合计。
“7100 系列是我们的光学表面分析技术一个创新扩展名客户已经认可作为记录工具为缺陷检验和分类”的坎德拉说杰夫 Donnelly，组副总统增长和新兴市场 (宝石) 在 KLA-Tencor。 “以被改进的区分和分类功能，这 7100 系列’全在一起的解决方法设计减少在其他工具的相关性，降低我们的客户’费用和提供他们以更加快速的时间给结果”。
在地区或者位，密度的持续的增长驱动了对较低表面污染程度，更加平稳的磁盘表面，对更小的缺陷范围的增加的区分的需要，并且对控制特定缺陷的一个重点输入及早这个进程。 而且，当录音磁头苍蝇高度收缩，小的缺陷现在有更大的产量影响。 领先业界的区分，坎德拉 7100 系列是解决这些行业挑战的理想的解决方法。
硬盘驱动器行业继续需求增加性能价格比他们的客户的，因此制造商必须保持费用竞争与更加快速的时间对结果和统计上有效的决策。 坎德拉 7100 减少多个无生产工具相关性和方法，例如一基本强制、浏览的电子和传输电子显微镜，以及电子测试。 多个检验工具当前执行的分析可能现在完成快速地和在一低价在一个唯一工具。
坎德拉 7100 系列由日立全球储存工艺， (HGST)一家主导的储存工艺公司合格。
KLA-Tencor 当前接受产品命令。 预定发运在 10月开始。