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Os Instrumentos de Oxford Revolucionam o EDS com o Detector X-Máximo Novo da Tracção do Silicone

Published on October 14, 2008 at 9:54 AM

Mais uma vez, os Instrumentos de Oxford revolucionaram o EDS! Seu Detector X-Máximo novo da Tracção do Silicone (SDD) fornece agora microscopists do elétron o detector o mais grande da área nunca - sobre DEZ vezes o ângulo contínuo de detectores convencionais do EDS.

“Este produto já está mudando a maneira que os povos pensam sobre o EDS. Há já não um acordo entre a produtividade e a precisão. Com esta grande área nova SDDs nós estamos conseguindo a análise da mundo-classe nas velocidades que eram inconcebíveis somente há alguns anos atrás.” Dan Varnam, Director da Introdução de Produto Novo, disse que “Este é o lançamento o mais emocionante de minha carreira. ”

O detector Analítico X-Máximo do SDD vem em uma escala dos tamanhos de 20mm2 até uns 80mm proeminentes2. Nenhum acordo no desempenho foi permitido, e os detectores conseguem a definição para baixo a 123eV com produção distante além de 100.000 cps (por segundo das contagens).

Com um ângulo DEZ da captação vezes aquela de SDDs tradicional, a lata X-Máxima nova:

  • Recolha a produtividade maciça crescente dos dados 10x mais rapidamente - SEM
  • Recolha dados em umas mais baixas correntes do feixe 10x - tornando a nano-análise verdadeira possível em partículas e em características da nano-escala
  • Recolha dados equivalentes no 10ns do tempo exigido por um SDD menor - reduzindo as possibilidades da contaminação da amostra
  • Seja Executado em taxas da contagem bem sobre 100,000cps - sem danificar a amostra

Uma vantagem principal do detector novo é que todas estas melhorias vêm sem nenhuns acordos na definição ou na análise exacta. Combinado com o software líder de mercado do EDS do INCA, o sistema retem a precisão analítica e os Instrumentos de Oxford da usabilidade são ilustres para - somente agora com 10 vezes melhore a produtividade!

O detector trialled por algum tempo com usuários chaves. O Dr. Phil Russell, Distinto Professor da Física e da Educação da Ciência na Universidade Estadual Apalaches nos EUA disse que “Eu tenho trabalhado com este sistema para um número de meses agora e am impresso muito com os resultados que Eu consegui nele. Fornece a capacidade para realizar experiências que Eu normalmente não tentaria fazer em SEM, e com a sensibilidade melhorada e a contagem aumentada as taxas permitem que eu investigue materiais e dispositivos de Nanostructured no detalhe incrível. Sem mudar qualquer coisa exceto meu detector, Eu fui aberto de repente a um mundo novo da análise.”

Last Update: 14. January 2012 15:31

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