Posted in | Nanomaterials

牛津儀器改革與新的 X 最大硅偏差探測器的 EDS

Published on October 14, 2008 at 9:54 AM

再次,牛津儀器改革了 EDS! 其新的 X 最大硅偏差探測器 (SDD)現在提供電子顯微鏡家以最大的區探測器曾經在十倍期間常規 EDS 探測器多面角。

「此產品已經更改人們考慮 EDS 的方式。 不再有在生產率和準確性之間的妥協。 這些新的大區 SDDs 我們達到國際水平的分析以只幾年前是不可思議的速度」。 丹 Varnam,新產品簡介主任,說 「這是我的事業最扣人心弦的生成。 」

X 最大分析 SDD 探測器進來範圍的範圍自 20mm2 至一未清 80mm2。 在性能的妥協不允許,并且探測器達到解決方法下來對與處理量的 123eV 超出 100,000 cps (計數每秒)。

乘那的獲取角度十傳統 SDDs,新的 X 最大罐頭:

  • 快速地會集數據 10x - 大量增長的 SEM 生產率
  • 收集數據在 10x 更低的射線當前 - 使真的納諾分析成為可能在納諾縮放比例微粒和功能
  • 收集在更小的 SDD 的第 10 的等同的數據需時 - 減少範例汙穢的機會
  • 運行以計數費率遠遠超出 100,000cps -,无需損壞這個範例

新的探測器的一個主要好處是所有這些改善來,不用在解決方法或準確分析的任何妥協。 與領先市場的印加人 EDS 軟件結合,這個系統保留分析準確性,并且可用性牛津儀器是顯耀的為 - 與 10 次現在只请改善生產率!

這臺探測器有一段時間了 trialled 與關鍵用戶。 菲爾羅素,物理和科學教育著名的教授博士在阿巴拉契亞州立大學在美國說 「我現在與此系統一起使用一定數量的月和上午的非常留下深刻印象對我取得了對此的結果。 它提供這個功能執行我在通常不會設法執行 SEM 的實驗,并且與被改進的區分和增加的計數費率允許我調查 Nanostructured 材料和設備在難以置信的詳細資料。 沒有更改任何東西除了我的探測器,我對分析一個新的世界突然被開張了」。

Last Update: 24. January 2012 00:27

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit