Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

HORIBA Jobin Yvon からの薄膜のための新しく、より強力な分析ソフトウェア

Published on October 21, 2008 at 12:58 AM

HORIBA Jobin Yvon、研究および企業のための分光 ellipsometers の一流の製造業者は、高度の薄膜の性格描写プラットホームによって呼出される DeltaPsi2 を提供します。 ソフトウェアは ellipsometry に、偏光測定および反射計および制御すべての HORIBA Jobin Yvon の薄膜の度量衡学の器械適用します。

DeltaPsi2 ソフトウェアは薄膜の構造の正確で、適用範囲が広い性格描写に機能を模倣し、報告する高度の測定を提供します。

機能は厚さ、光学定数、勾配、異方性、合金の構成、 bandgap の計算、表面荒さ、 EMA、裏側の訂正、マルチ結合された測定/分析データの計算をおよびもっと含んでいます。

それは物質的な光学定数の正確な性格描写に必要な参照および分散関係の最も大きい材料のデータベースを統合します。

最近の機能拡張は自動適切なプロシージャを含む自動模倣操作および使い易さのための分散関係の parameterization および分析の速度に焦点を合わせました。 それはまた定期的な構造 (1D の第 2 格子) の性格描写の最新の前進を組み込みます。

UT-300 および FF-1000 のようなすてきな ellipsometers、およびインライン ellipsometers (モニタリングの器械を転送する例えばロール) はまた DeltaPsi2 ソフトウェアプラットホームによって運転されます。 ソフトウェアは強い薄膜の度量衡学制御のためのフルオートの操作環境そして高度の通信プロトコル (RS232、 TCP/IP) を含んでいます。 DeltaPsi2 ソフトウェアは半導体ウエハーおよびガラスのパネル、統計分析、高度のデータ操作、インポート/エクスポートのパッケージ機能で結果をマップし、機能を再処理することの標準化された視覚化を提供します。

最近、 HORIBA Jobin Yvon は新しい自動車 SE の薄膜の品質管理のためのフルオートの ellipsometer を進水させました。 DeltaPsi2 プラットホームに含まれている新しい自動柔らかいソフトウエアパッケージによって運転されてこの新しく革新的なソフトウェアはデータ品質で暗号漏洩無しで ellipsometric 分析の容易な操作を提供するように設計されていました。

Last Update: 14. January 2012 13:29

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit