臨時和堅硬測試的 Nanovea 的專利審理沒有接觸的技術
Published on October 21, 2008 at 10:49 AM
在此新的推進之前所有測試在帳戶基體和設備標準將要求機械表面接觸，在範例移動期間是不可能的，採取。 沒有接觸，現在以這個能力觀察受託代購商的準確的深度，範例行動不再是問題，并且受託代購商的真的深度可以直接地被記錄。 「我們是非常興奮的關於我們新的技術并且盼望陳列其優越結果」，微 Photonics 表面測試分部說皮埃爾 Leroux，總經理。 「我們一貫地尋找新的方式提供请是一樣累進像打算的解決方法他們的儀器; 我認為此技術執行那」。
稀薄/濃厚塗層和基體微/宏觀機械性能的確定的高精度模塊使用被導航的凹進和臨時/黏附力測試。 他們對行業塗層的描述特性是理想的; 範圍從等離子被處理的層，用於半導體和光學技術，對裝飾和保護層，用於汽車零件和消費品。 Nanovea 微/宏觀機械測試人員使用獨立強制和深度傳感器獲得用於被導航的凹進和臨時測試的深度與負荷曲線。
結果，最快速和最準確測量技術在這個行業和能够在材料和決心所有形狀 & 紋理向關聯挑戰與更舊的方法受託代購商高度評定的例如下沉在軟的材料和參考移動在毛面。