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फी नई TrueCrystal तनाव पैकेज डेटा के लिए कम समय के साथ संयोजित आसानी उपयोग की

Published on November 4, 2008 at 9:56 AM

फी कंपनी , परमाणु पैमाने पर और विश्लेषण प्रणाली इमेजिंग के एक अग्रणी प्रदाता, आज अपनी नई TrueCrystal तनाव विश्लेषण पैकेज है कि एक टाइटन (टीएम) या (टीएम) स्कैनिंग / संचरण इलेक्ट्रॉन (एस / मंदिर) खुर्दबीन प्रणाली Tecnai पर स्थापित किया जा सकता है है जारी की. नया, स्वचालित तनाव विश्लेषण पैकेज इंजीनियरों को मौजूदा तकनीक के समय के एक अंश में बेहद सटीक मापन प्राप्त करने के लिए अनुमति देता है.

"सिलिकन तनाव इंजीनियरिंग उन्नत अर्धचालक विनिर्माण के क्षेत्र में एक महत्वपूर्ण प्रक्रिया नवाचार है, यह सुधार डिवाइस प्रदर्शन और उन्नत प्रौद्योगिकी नोड्स पर दक्षता के लिए अनुमति देता है, वर्तमान में, केवल मंदिर स्थानिक संकल्प की आवश्यकता पर इन प्रेरित जाली उपभेदों मापने में सक्षम साबित हो गया है," यूसुफ रेस ने कहा , उत्पाद विपणन प्रबंधक, फी में इलेक्ट्रॉनिक्स डिवीजन. "TrueCrystal तनाव विश्लेषण नैनोमीटर स्तर पर किसी भी लाइन के साथ एक क्रिस्टलीय नमूने में तनाव के दृढ़ संकल्प, के लिए एक पूरी विश्लेषणात्मक पैकेज है."

टोनी एडवर्ड्स, उपाध्यक्ष और फी इलेक्ट्रॉनिक्स डिवीजन के महाप्रबंधक, कहते हैं, "फी TrueCrystal तनाव विश्लेषण पैकेज हमारे करने के लिए व्यापक, आवेदन विशेष समाधान कि लक्ष्य मंदिर उत्पादकता को अधिकतम करने के साथ ग्राहकों को उपलब्ध कराने कॉर्पोरेट प्रतिबद्धता का उदाहरण, डाटा अधिग्रहण बार कम और विश्लेषण के समग्र लागत कम है. "

TrueCrystal मंदिर में नैनो किरण विवर्तन (NBD) का एक संयोजन का लाभ उठाता है, और एक शक्तिशाली बंद लाइन डाटा विश्लेषण पैकेज, जल्दी और आसानी से उच्च गुणवत्ता वाले उन्नत सिलिकॉन तनावपूर्ण प्रक्रिया के विकास के लिए आवश्यक डेटा उत्पन्न.

NBD तकनीक में मनाया अधिक परंपरागत तरीकों जैसे उच्च संकल्प मंदिर (HRTEM) और संसृत बीम इलेक्ट्रॉन विवर्तन (CBED) सीमाओं के अधीन नहीं है. ऑन लाइन सॉफ्टवेयर घटक खुर्दबीन उपयोगकर्ता इंटरफ़ेस के भीतर काम करता है, और किसी को भी, जो एक मंदिर पर रासायनिक विश्लेषण किया गया है करने के लिए सरल कार्यप्रवाह लाइन स्कैन परिचित हो जाएगा. बंद लाइन सॉफ्टवेयर घटक तनाव विश्लेषण के लिए अधिग्रहीत विवर्तन पैटर्न के प्रत्येक व्यक्ति विवर्तन शिखर की अनुमति देता है. परिणामी डेटा फिर स्वचालित रूप से अधिग्रहीत स्कैन लाइन पार तनाव प्रोफ़ाइल की एक साजिश उत्पन्न करने के लिए प्रयोग किया जाता है. अंतिम डेटा कमी के माध्यम से प्रयोग परिणामों की प्रस्तुति से, TrueCrystal तनाव विश्लेषण पैकेज के साथ संयुक्त एक टाइटन या Tecnai मंदिर तेजी से, नमूने के एक विस्तृत रेंज में सटीक तनाव प्रोफ़ाइल दृढ़ संकल्प की अनुमति देगा.

Last Update: 6. October 2011 08:21

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