Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

Новый штамм TrueCrystal FEI в пакет сочетает в себе простоту использования с сокращением периода времени к данным

Published on November 4, 2008 at 9:56 AM

FEI компания , ведущий поставщик атомного масштаба визуализации и анализа данных, сегодня выпустила свой ​​новый штамм TrueCrystal анализ пакета, который может быть установлен на Titan (TM) или Tecnai (TM) сканирование / просвечивающего электронного микроскопа (S / TEM) системы. Новый, автоматизированный пакет анализа деформации позволяет инженерам для достижения высокой точности измерений в доли время существующие методы.

"Силиконовая деформации инженерных является важным инновационным процессом в области производства полупроводниковых приборов;. Она позволяет для повышения производительности устройства и эффективности на передовые технологии узлов В настоящее время только ТЕМ доказала, способный измерять эти индуцированной деформации решетки при необходимости пространственное разрешение", сказал Джозеф гонки , менеджер по маркетингу продукции, электроники отдела в ФЭИ. "TrueCrystal Штамм Анализ полного аналитического пакета для определения деформации вдоль любой линии в кристаллический образец, на нанометровом уровне."

Тони Эдвардс, вице-президент и генеральный менеджер подразделения Electronics Division FEI, добавляет ", TrueCrystal FEI по деформированного пакет примере нашей корпоративной обязательства по предоставлению заказчикам всеобъемлющие, применение конкретных решений, которые помогли бы им максимально ТЕМ производительность труда, сократить время сбора данных и низкой общей стоимости анализа. "

TrueCrystal использует сочетание нано-лучевой дифракции (NBD) в ТЕА, и мощный автономного анализа данных пакета, быстро и легко создавать высококачественные данные, необходимые для продвинутых напряженным развитием процесса кремния.

НБД техника не подпадают под ограничения, наблюдаемые в более традиционные методы, такие как высокое разрешение ТЕА (HRTEM) и конвергентных дифракции электронного пучка (CBED). Он-лайн программный компонент работает в пользовательском интерфейсе микроскопом, и просто линии сканирования рабочий процесс будет знаком всем, кто провел химический анализ на ПЭМ. Автономный программный компонент позволяет деформированного состояния каждого отдельного пика дифракции приобрела дифракционных картин. Полученные данные затем используются для автоматического создания участок деформации профиля по всей приобретенной линии сканирования. Из эксперимента, через окончательное восстановление данных, представление результатов, анализ TrueCrystal Штамм пакет в сочетании с Titan или Tecnai ТЭМ позволит проводить быстрый, точный определения профиля деформации в широком диапазоне образцов.

Last Update: 8. November 2011 21:35

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit