“Assistenza Tecnica di Difetto e di Gettering Rapporto di Tecnologia dei Semiconduttori in XII„ Disponibile da Ricerca e dai Servizi

Published on November 28, 2008 at 7:01 AM

La Ricerca ed i Servizi ha annunciato l'aggiunta “Assistenza Tecnica di Difetto e di Gettering del rapporto di Tecnologia dei Semiconduttori in XII„ alla loro offerta.

“Documenti Selezionati e pari esaminati da Gettering ed Assistenza Tecnica di Difetto in Tecnologia dei Semiconduttori - GADEST 2007„ ha tenuto dal quattordicesimo al 19 ottobre 2007 in Italia al EMFCSC

Questa raccolta comprende 117 documenti esaminati il pari invitati oltre da 70 centri di ricerca in più di 25 paesi. Questi documenti, scritti internazionalmente - dagli esperti in materia di fama, esame l'avanzato corrente e predicono le tendenze relative future ai campi di ricerca dei loro rispettivi autori. Gli aspetti Fondamentali come pure i problemi tecnologici connessi con i difetti in materiali ed unità elettronici, sono affrontati

La raccolta è divisa nei capitoli: Silicio Cristallino per le pile solari: monocristalli, Si multi-cristallino, nastri, pellicole sottili di Si sui substrati; a materiali Basati a silicio e materiali avanzati a semiconduttore (Si sforzato, SOI, SiGe, Sic, GE); Impurità (ossigeno, carbonio, azoto, fluoro, metalli) in Si; Simulazione di Modellistica dei difetti in semiconduttori di Si; Assistenza tecnica di Difetto nella microelettronica e nel photovoltaics; Tecniche di passività e di Gettering; Caratterizzazione dell'impurità e di Difetto (fisico ed elettrico); a Nanostructures (nanocrystals, nanowires, nanodevices) Basato a si; a eterostrutture e ad optoelettronica Basate a silicio.

Last Update: 17. January 2012 06:46

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