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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

SEM De alta resolución Extremo de FEI Permite la Resolución Sub del Nanómetro

Published on December 26, 2008 at 7:43 AM

El nuevo microscopio electrónico de alta resolución extremo de exploración de Magellan™ de FEI (XHR SEM) permite que los científicos y los representantes técnicos vean rápidamente las imágenes superficiales 3D a muchos diversos ángulos y en las resoluciones debajo de un nanómetro (sobre la talla de diez átomos de hidrógeno, de lado a lado). Más importante, las muestras de las imágenes de Magellan XHR SEM en las energías muy inferiores del haz, evitando las distorsiones causadas de otra manera por el haz que penetra en el material abajo.

El Magellan SEM De alta resolución Extremo de FEI.

FEI entrega las soluciones más innovadoras para la proyección de imagen, la caracterización y la creación de un prototipo en el nanoscale. Los TEM más avanzados de la compañía, SEM, y las soluciones de DualBeam™ fueron creados específicamente para la ciencia material, las ciencias de la vida, y la explotación minera. Visite Por Favor FEI en Pittcon 2009 en la cabina 1642 para aprender más sobre el Magellan y otras técnicas de alta resolución de la microscopia.

Last Update: 17. January 2012 05:11

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